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1. (WO2003015622) DISPOSITIF DE MESURE DES ABERRATIONS D'UN SYSTEME DE TYPE OEIL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/015622    N° de la demande internationale :    PCT/FR2002/002859
Date de publication : 27.02.2003 Date de dépôt international : 12.08.2002
CIB :
A61B 3/103 (2006.01), A61B 3/107 (2006.01), A61B 3/15 (2006.01)
Déposants : IMAGINE EYES [FR/FR]; 18, rue Charles De Gaulle, F-91400 Orsay (FR) (Tous Sauf US).
BUCOURT, Samuel, Henri [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
LEVECQ, Xavier, Jean-François [FR/FR]; (FR) (US Seulement)
Inventeurs : BUCOURT, Samuel, Henri; (FR).
LEVECQ, Xavier, Jean-François; (FR)
Mandataire : PONTET, Bernard; Pontet Allano & Associés SELARL, 25, rue Jean Rostand, Parc-Club Orsay-Université, F-91893 Orsay Cedex (FR)
Données relatives à la priorité :
01/11112 12.08.2001 FR
Titre (EN) DEVICE FOR MEASURING ABERRATIONS IN AN EYE-TYPE SYSTEM
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DES ABERRATIONS D'UN SYSTEME DE TYPE OEIL
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a device for measuring aberrations in an eye-type system comprising, in particular, an illumination path (VE) with an illumination diaphragm (APT) and a test path (VA), imaging means (L1) and means of positioning the eye (VI) in relation to said imaging means. The inventive device also comprises a stray reflection filtration element (FLT), which is centred on the measurement axis (z) of the imaging means, and means for the optical conjugation (L2, L3) of the pupil of the eye with the plane of the illumination diaphragm and the test plane. According to the invention, the illumination beam path converges at the centre of the filtration element (FLT). The filtration element, the illumination path, the test path and the conjugation means are all interdependent and positioned on a platform (PTF1) that can move in relation to the imaging means (L1) along axis z. The illumination diaphragm is off-centre in relation to the measurement axis (z) such that the stray light flux reflected in particular by the imaging means (L1) is deflected from the test path by the filtration element (FLT).
(FR)Le dispositif selon l'invention comprend notamment une voie d'éclairage (VE) avec un diaphragme d'éclairage (APT) et une voie d'analyse (VA), des moyens d'imagerie (L1) et des moyens de positionnement de l'oeil (VI) par rapport auxdits moyens d'imagerie. Il comprend en outre un élément de filtrage (FLT) des réflexions parasites, centre sur l'axe de mesure (z) des moyens d'imagerie, ainsi que des moyens de conjugaison optique (L2, L3), de la pupille de l'oeil avec le plan du diaphragme d'éclairage et le plan d'analyse. Selon l'invention, le faisceau d'éclairage est convergent au centre de l'élément de filtrage (FLT) . L'élément de filtrage, la voie d'éclairage, la voie d'analyse, les moyens de conjugaison sont solidaires, positionnés sur une plate-forme (PTF1) mobile par rapport aux moyens d'imagerie (L1) le long de l'axe (z) .Le diaphragme d'éclairage est décentré par rapport à l'axe de mesure (z), de telle sorte que le flux lumineux parasite réfléchi notamment par les moyens d'imagerie (L1) soit détourné de la voie d'analyse par l'élément de filtrage (FLT) .
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)