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1. (WO2003015077) PROCEDE ET APPAREIL PERMETTANT DE DETERMINER UNE HAUTEUR TONALE PAR ANALYSE SPECTRALE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/015077    N° de la demande internationale :    PCT/KR2002/001498
Date de publication : 20.02.2003 Date de dépôt international : 08.08.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    11.11.2002    
CIB :
G10L 11/04 (2006.01)
Déposants : AMUSETEC CO., LTD. [KR/KR]; 312 Woosung-Character, 395-73 Shindaebang-Dong, Dongjak-Ku, 156-010 Seoul (KR) (Tous Sauf US).
JUNG, Doill [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
SEO, Hunseok [KR/KR]; (KR) (US Seulement)
Inventeurs : JUNG, Doill; (KR).
SEO, Hunseok; (KR)
Mandataire : KIM, Ham-Kon; HYUNDAI Life Insurance BLDG., 5F., 649-14 Yoksam_dong, Kangnam_ku, 135-080 Seoul (KR)
Données relatives à la priorité :
2001-0047777 08.08.2001 KR
Titre (EN) PITCH DETERMINATION METHOD AND APPARATUS ON SPECTRAL ANALYSIS
(FR) PROCEDE ET APPAREIL PERMETTANT DE DETERMINER UNE HAUTEUR TONALE PAR ANALYSE SPECTRALE
Abrégé : front page image
(EN)A method and apparatus for detecting a pitch using frequency analysis are provided. An externally input digital signal is analyzed into frequency component values at predetermined time intervals, and positions of peaks of the digital signal are detected based on the frequency component values. It is determined whether a frequency at a maximum peak position among the peak positions is a pitch or a n-order harmonic frequency of the pitch to detect a pitch. Then, the range of the pitch is determined based on the range of a harmonic frequency of the detected pitch. Accordingly, an error range for the pitch detected using frequency analysis is minimized, thereby more exactly detecting a pitch when the pitch is detected using the frequency analysis.
(FR)L'invention concerne un procédé et un appareil permettant de détecter une hauteur tonale par analyse de fréquence. Un signal numérique introduit depuis l'extérieur est analysé sous forme de valeurs de composantes fréquentielles à des intervalles de temps prédéterminés et les positions des crêtes du signal numérique sont détectées sur la base des valeurs de composantes fréquentielles. On détermine si une fréquence se trouvant dans la position maximale de crête par rapport à aux autres positions de crête est une hauteur tonale ou une fréquence harmonique d'ordre n de la hauteur tonale afin de détecter une hauteur tonale. On détermine ensuite la portée de la hauteur tonale sur la base de la portée d'une fréquence harmonique de la hauteur tonale détectée. Il est ainsi possible de minimiser la plage d'erreur de la hauteur tonale détectée par analyse de fréquence, ce qui permet de détecter une hauteur tonale de façon plus exacte, lorsque la hauteur tonale est détectée par analyse de fréquence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : coréen (KO)