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1. (WO2003014794) MICROSCOPE ELECTRONIQUE ET SYSTEME DE SPECTROSCOPIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2003/014794    N° de la demande internationale :    PCT/GB2002/003599
Date de publication : 20.02.2003 Date de dépôt international : 05.08.2002
CIB :
G01J 3/02 (2006.01), H01J 37/22 (2006.01), H01J 37/256 (2006.01)
Déposants : RENISHAW PLC [GB/GB]; New Mills Wotton-under-Edge Gloucestershire GL12 8JR (GB)
Inventeurs : BENNETT, Robert; (GB).
WOOLFREY, Andrew, Mark; (GB).
DAY, John, Charles, Clifford; (GB).
BEWICK, Angus; (GB)
Mandataire : JACKSON, John, Timothy; Renishaw PLC Patent Department New Mills Wotton-Under-Edge Gloucestershire GL12 8JR (GB)
Données relatives à la priorité :
0118981.0 03.08.2001 GB
Titre (EN) ELECTRON MICROSCOPE AND SPECTROSCOPY SYSTEM
(FR) MICROSCOPE ELECTRONIQUE ET SYSTEME DE SPECTROSCOPIE
Abrégé : front page image
(EN)An electron microscope (10) is adapted to enable spectroscopic analysis of a sample (16). A parabolic mirror (18) has a central aperture (20) through which the electron beam can pass. The mirror (18) focuses laser illumination from a transverse optical path (24) onto the sample, and collects Raman and/or other scattered light, passing it back to an optical system (30). The mirror (18) is retractable (within the vacuum of the electron microscope) by a sliding arm assembly (22). An adjustable kinematic mount (44) defines the inserted position of the parabolic mirror (18). A second parabolic mirror (104) is provided to direct the scattered or generated light towards an optical analyser. The parabolic mirrors are positioned in an aberration cancelling orientation and such that they compensate for inaccuracies in the position of the sliding arm assembly (22).
(FR)La présente invention concerne un microscope électronique destiné à l'analyse spectroscopique d'un échantillon (16). Un miroir parabolique (18) présente une ouverture centrale (20) par laquelle peut passer le faisceau électronique. Le miroir focalise l'éclairage laser à partir d'un chemin optique transversal (24) sur l'échantillon, et recueille la lumière diffusée par effet Raman et /ou autre, le renvoyant vers un système optique (30). Le miroir (18) est escamotable (au sein du vide du microscope électronique) par un ensemble de bras coulissants (22). Un montage cinématique réglable (44) définit la position escamotée du miroir parabolique (18). Un deuxième miroir parabolique (104) est prévu pour orienter la lumière diffusée ou générée vers un analyseur optique. Les miroirs paraboliques sont disposés dans une orientation de suppression d'aberration et de sorte qu'ils compensent les imprécisions dans la position de l'ensemble de bras coulissants (22).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)