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1. (WO2003010764) PROCEDE D'INSPECTION D'UN SUPPORT D'ENREGISTREMENT OPTIQUE

Pub. No.:    WO/2003/010764    International Application No.:    PCT/JP2002/007510
Publication Date: 6 févr. 2003 International Filing Date: 24 juil. 2002
IPC: G11B 7/0037
G11B 7/26
Applicants: TDK CORPORATION

Inventors: TAMAGAWA, Yoshihisa

Title: PROCEDE D'INSPECTION D'UN SUPPORT D'ENREGISTREMENT OPTIQUE
Abstract:
L'invention se rapporte à un procédé d'inspection d'un support d'enregistrement optique consistant à déterminer si un support d'enregistrement optique (1) dans lequel au moins une première couche protectrice (2), une couche d'enregistrement (3), une seconde couche protectrice (4) et une couche réfléchissante (5) sont ainsi formées sur un substrat (6) est satisfaisant ou non. Ce support d'enregistrement optique (1) est évalué grâce à la mesure du facteur de réflexion du support d'enregistrement optique (1) à inspecter et à la comparaison du facteur de réflexion mesuré avec une valeur prédéterminée. Par conséquent, un support d'enregistrement fabriqué peut être évalué en peu de temps. C'est pourquoi, le temps nécessaire au processus d'inspection peut être suffisamment écourté et, par conséquent, le coût de fabrication du support d'enregistrement optique (1) peut être suffisamment réduit tout en conservant une haute fiabilité.