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1. WO2003008952 - PROCEDE ET DISPOSITIF D'ANALYSE NON DESTRUCTIVE ET OBJET SPECIFIQUE SOUMIS A CE PROCEDE

Numéro de publication WO/2003/008952
Date de publication 30.01.2003
N° de la demande internationale PCT/JP2002/006595
Date du dépôt international 28.06.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 27.12.2002
CIB
G01N 23/04 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
02en transmettant la radiation à travers le matériau
04et formant des images des matériaux
G01N 23/207 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
20en utilisant la diffraction de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher la structure cristalline; en utilisant la diffusion de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher les matériaux non cristallins; en utilisant la réflexion de la radiation par les matériaux
207Diffractométrie, p.ex. en utilisant une sonde en position centrale et un ou plusieurs détecteurs déplaçables en positions circonférentielles
CPC
G01N 23/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
02by transmitting the radiation through the material
04and forming images of the material
G01N 23/207
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
Déposants
  • ANDO, Masami [JP/JP]; JP
Inventeurs
  • ANDO, Masami; JP
Mandataires
  • OKAZAKI, Kenshu; 6F, Mani-Building 37-10, Udagawa-cho Shibuya-ku Tokyo 150-0042, JP
Données relatives à la priorité
2001-21122111.07.2001JP
2002-18633226.06.2002JP
2002-5805304.03.2002JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) NONDESTRUCTIVE ANALYSIS METHOD AND NONDESTRUCTIVE ANALYSIS DEVICE AND SPECIFIC OBJECT BY THE METHOD/DEVICE
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF D'ANALYSE NON DESTRUCTIVE ET OBJET SPECIFIQUE SOUMIS A CE PROCEDE
Abrégé
(EN)
Novel nondestructive analysis method and nondestructive analysis device capable of providing a high-contrast image within an object easily and in one go by setting, when an object (2) is irradiated with homogenous, parallel X-rays (1) to beam a refraction X-ray (3) from the object (2) onto a transmitting crystal analysis element (4a), and the refraction X-ray (3) is separated spectrally into a front-direction refraction X-ray (41a) and a refraction-direction refraction X-ray (42a) by the dynamic refracting action of the transmitting crystal analysis element (4a), the thickness of the transmitting crystal analysis element (4a) to such one that, when no object is present, the intensity of either one of the front-direction refraction X-ray (41a) and the refraction-direction refraction X-ray (42a) is almost zero in comparison with the intensity of the other at the intensity of an X-ray little affected by a directly beamed X-ray.
(FR)
Nouveaux procédé et dispositif d'analyse non destructive capables de fournir facilement une image à contraste élevé de l'intérieur d'un objet et en une seule fois en ajustant, lorsqu'un objet (2) est exposé à des rayons X (1) homogènes parallèles pour que ledit objet (2) renvoie un rayon X (3) de réfraction sur un élément d'analyse à cristal émetteur (4a), et que le rayon X (3) de réfraction est spectralement séparé en un rayon X de réfraction (41a) à sens avant et en un rayon X de réfraction (42a) à sens de réfraction par l'action de réfraction dynamique de l'élément d'analyse à cristal émetteur (4a), l'épaisseur de l'élément d'analyse à cristal émetteur (4a) de manière que lorsqu'aucun objet n'est présent, l'intensité du rayon X de réfraction (41a) à sens avant ou du rayon X de réfraction (42a) à sens de réfraction est pratiquement égale à zéro par comparaison à l'intensité de l'autre, à l'intensité d'un rayon X peu affectée par un rayon X directement envoyé.
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