Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

1. WO2003007004 - CIRCUIT D'ESSAI DE COURANT D'INJECTION

Numéro de publication WO/2003/007004
Date de publication 23.01.2003
N° de la demande internationale PCT/EP2002/006814
Date du dépôt international 20.06.2002
CIB
G01R 31/27 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
26Test de dispositifs individuels à semi-conducteurs
27Test de dispositifs sans les extraire physiquement du circuit dont ils font partie, p.ex. compensation des effets dus aux éléments environnants
G01R 31/28 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
CPC
G01R 31/27
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
26Testing of individual semiconductor devices
27Testing of devices without physical removal from the circuit of which they form part, e.g. compensating for effects surrounding elements
G01R 31/2884
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2884using dedicated test connectors, test elements or test circuits on the IC under test
Déposants
  • EM DICROELECTRONIC-MARIN SA [CH/CH]; Rue des Sors 3 CH-2074 Marin, CH
Inventeurs
  • BUESCHER, Kevin, Scott; US
Mandataires
  • I C B; Ingénieurs Conseils en Brevet SA Rue des Sors 7 CH-2074 Marin, CH
Données relatives à la priorité
09/903,92912.07.2001US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) INJECTION CURRENT TEST CIRCUIT
(FR) CIRCUIT D'ESSAI DE COURANT D'INJECTION
Abrégé
(EN)
An injection current test circuit for an amplifier (24) includes a test current input pad (16). One (14) of a plurality of current mirrors (12) is connected to the test current input pad (16). A switch (20) is connected to a second (18) of the plurality of current mirrors (12) and connected to the amplifier (24). A test current output pas (22) is connected to the switch (20).
(FR)
Circuit d'essai de courant d'injection pour un amplificateur (24) comprenant une ligne d'entrée de courant d'essai (16). L'une (14) des pluralités de miroirs de courant (12) est connectée à la ligne d'entrée de courant d'essai (16). Un commutateur (20) est connecté à une seconde (18) des pluralités des miroirs de courant (12) connectée à l'amplificateur (24). Une ligne de sortie de courant d'essai (22) est connectée au commutateur (20).
Également publié en tant que
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international