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Paramétrages

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1. WO2003005793 - CHOIX DE MARQUES DE REFERENCE PERMETTANT UNE ESTIMATION RAPIDE DE LA POSITION D'UN DISPOSITIF D'IMAGERIE

Numéro de publication WO/2003/005793
Date de publication 16.01.2003
N° de la demande internationale PCT/IB2002/002837
Date du dépôt international 04.07.2002
CIB
H05K 13/08 2006.01
HÉLECTRICITÉ
05TECHNIQUES ÉLECTRIQUES NON PRÉVUES AILLEURS
KCIRCUITS IMPRIMÉS; ENVELOPPES OU DÉTAILS DE RÉALISATION D'APPAREILS ÉLECTRIQUES; FABRICATION D'ENSEMBLES DE COMPOSANTS ÉLECTRIQUES
13Appareils ou procédés spécialement adaptés à la fabrication ou l'ajustage d'ensembles de composants électriques
08Contrôle de la fabrication des ensembles
CPC
H05K 13/0818
HELECTRICITY
05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
13Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
08Monitoring manufacture of assemblages
081Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
0818Setup of monitoring devices prior to starting mounting operations; Teaching of monitoring devices for specific products; Compensation of drifts during operation, e.g. due to temperature shifts
Déposants
  • KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven, NL (AllExceptUS)
  • VILLAIN, Nicolas [FR/NL]; NL (UsOnly)
Inventeurs
  • VILLAIN, Nicolas; NL
Mandataires
  • LOTTIN, Claudine; Internationaal Octrooibureau B.V. Prof. Holstlaan 6 NL-5656 AA Eindhoven, NL
Données relatives à la priorité
01401790.904.07.2001EP
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) CHOICE OF REFERENCE MARKINGS FOR ENABLING FAST ESTIMATING OF THE POSITION OF AN IMAGING DEVICE
(FR) CHOIX DE MARQUES DE REFERENCE PERMETTANT UNE ESTIMATION RAPIDE DE LA POSITION D'UN DISPOSITIF D'IMAGERIE
Abrégé
(EN)
A method of estimating the position of the field of view of an imaging device, such as a camera, relative to a board involves designating markings on the board as references and detecting the shift in these reference markings within the field of view of the camera compared to a known position therein. The reference markings are selected such that detection thereof involves analysis of only a subset of the image produced by the imaging device. The selection of a group of one or more markings to serve as a reference involves determination of the image region (error window) in which the reference marking(s) may appear, given the maximal positional error of the imaging device. It is also checked (step T4) that the entire error window will be within the useable field of view of the imaging device and that, within the error window, no other group of markings will appear that could be confused with the selected group of markings (step T5). Detection of the reference group of markings involves generation of an image profile along a line crossing the center of the error window and finding the best match between the markings along this profile and the markings in the reference group.
(FR)
La présente invention concerne un procédé permettant l'estimation de la position du champ de vision d'un dispositif d'imagerie tel qu'une caméra, par rapport à une carte de circuit imprimé, ledit procédé faisant intervenir la désignation de marques sur la carte de circuit imprimé en tant que références et la détection du décalage dans ces marques de référence à l'intérieur du champ de vision de la caméra en comparaison avec une position connue à l'intérieur de celui-ci. Ces marques de référence sont sélectionnées de sorte que leur détection fait intervenir l'analyse uniquement d'un sous-ensemble de l'image produite par le dispositif d'imagerie. La sélection d'un groupe d'une ou plusieurs marques pour servir de référence fait intervenir la détermination de la zone d'image (fenêtre d'erreur) dans laquelle la/les marque(s) de référence est/sont susceptible(s) d'apparaître, étant donné l'erreur de position maximale du dispositif d'imagerie. Il y a également vérification (étape T4) que la totalité de la fenêtre d'erreur se trouve à l'intérieur du champ utile de vision du dispositif d'imagerie et que, à l'intérieur de le fenêtre d'erreur, aucun autre groupe de marques susceptible d'être confondu avec le groupe de marques sélectionné n'apparaît (étape T5). La détection du groupe de marques de référence fait intervenir la production d'un profil d'image le long d'une ligne passant par le centre de la fenêtre d'erreur et trouvant la meilleure correspondance entre les marques le long de ce profil et les marques dans la groupe de référence.
Également publié en tant que
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