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Paramétrages

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1. WO2003005446 - SYSTEME ET METHODOLOGIE DE FORMATION D'IMAGES UTILISANT UNE CONFIGURATION OPTIQUE D'ESPACE RECIPROQUE

Numéro de publication WO/2003/005446
Date de publication 16.01.2003
N° de la demande internationale PCT/US2002/021392
Date du dépôt international 03.07.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 05.02.2003
CIB
G02B 27/40 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
27Systèmes ou appareils optiques non prévus dans aucun des groupes G02B1/-G02B26/117
40Moyens optiques auxiliaires pour mise au point
G06K 9/76 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
KRECONNAISSANCE DES DONNÉES; PRÉSENTATION DES DONNÉES; SUPPORTS D'ENREGISTREMENT; MANIPULATION DES SUPPORTS D'ENREGISTREMENT
9Méthodes ou dispositions pour la lecture ou la reconnaissance de caractères imprimés ou écrits ou pour la reconnaissance de formes, p.ex. d'empreintes digitales
74Dispositions pour la reconnaissance utilisant des masques de référence optiques
76utilisant des masques holographiques
H01L 27/00 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
LDISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
27Dispositifs consistant en une pluralité de composants semi-conducteurs ou d'autres composants à l'état solide formés dans ou sur un substrat commun
CPC
G02B 21/365
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
36arranged for photographic purposes or projection purposes
365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
H01L 27/14625
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
27Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
14including semiconductor components sensitive to infra-red radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
144Devices controlled by radiation
146Imager structures
14601Structural or functional details thereof
14625Optical elements or arrangements associated with the device
Déposants
  • PALANTYR RESEARCH, LLC [US/US]; 24400 Highland Road Cleveland, OH 44143, US (AllExceptUS)
  • AMIN, Himanshu S. [US/US]; US (AllExceptUS)
  • BORTNICK, Daniel B. [US/US]; US (AllExceptUS)
  • TUROCY, Gregory [US/US]; US (AllExceptUS)
  • ANGKOR TECHNOLOGY, LLP [US/US]; 1900 East 9th Street 24th Fl. National City Center Cleveland, OH 44114, US (AllExceptUS)
  • CARTLIDGE, Andrew G. [GB/US]; US (UsOnly)
  • FEIN, Howard [US/US]; US (UsOnly)
Inventeurs
  • CARTLIDGE, Andrew G.; US
  • FEIN, Howard; US
Mandataires
  • TUROCY, Gregory; Amin & Turocy, LLP 24th FL. National City Center 1900 East 9th Street Cleveland, OH 44114, US
Données relatives à la priorité
09/900,21806.07.2001US
10/166,13710.06.2002US
10/189,32602.07.2002US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) IMAGING SYSTEM AND METHODOLOGY EMPLOYING RECIPROCAL SPACE OPTICAL DESIGN
(FR) SYSTEME ET METHODOLOGIE DE FORMATION D'IMAGES UTILISANT UNE CONFIGURATION OPTIQUE D'ESPACE RECIPROQUE
Abrégé
(EN)
An imaging system (10) and methodology (600) is provided to facilitate optical imaging performance. The system (10) includes a sensor (20) having one or more receptors and an image transfer medium (30) to scale the sensor and receptors to an object field of view (54). A computer (824), memory (864), and/or display (864) associated with the sensor (20) provides storage and/or display of information relating to output from the receptors to produce and/or process an image, wherein a plurality of illumination sources (60) can also be utilized in conjunction with the image transfer medium (30). The image transfer medium (30) can be configured as a k-space filter (110) that correlates a pitch (116) associated with the receptors to a diffraction-limited spot (50) within the object field of view (54), wherein the pitch (116) can be unit-mapped to about the size of the diffraction- limited spot (50) within the object field of view (54).
(FR)
L'invention concerne un système (10) et une méthodologie (600) de formation d'images facilitant la qualité de la formation d'images optiques. Le système (10) comprend un capteur (20) comportant un ou plusieurs récepteurs et un support (30) de transfert d'image permettant d'établir l'échelle du capteur (20) et des récepteurs au champ de vision (54) de l'objet. Un ordinateur (824), une mémoire (864), et/ou un affichage (864) associé au capteur (20) assurent le stockage et/ou l'affichage des informations concernant la sortie des récepteurs pour produire et/ou traiter une images. Une pluralité de sources d'éclairage (60) peuvent également être utilisées avec le support (30) de transfert d'images. Le support (30) de transfert d'image peut être configuré comme un filtre (110) d'espace k qui met en corrélation une distance (116) associée aux récepteurs avec un point (50) limité par la diffraction dans le champ de vision (54) de l'objet. La distance (116) peut faire l'objet d'une représentation unitaire correspondant aux dimensions du point (50) limité par diffraction dans le champ de vision (54) de l'objet.
Également publié en tant que
IN00158/KOLNP/2004
IN158/KOLNP/2004
NZ530988
ZA200400961
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international