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1. WO2003003536 - CIRCUIT ELECTRIQUE PERMETTANT DES COURTS-CIRCUITS SELECTIONNABLES POUR APPLICATIONS D'INSTRUMENTATION

Numéro de publication WO/2003/003536
Date de publication 09.01.2003
N° de la demande internationale PCT/US2002/020918
Date du dépôt international 01.07.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 29.01.2003
CIB
G01R 31/02 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
02Essai des appareils, des lignes ou des composants électriques pour y déceler la présence de courts-circuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes
CPC
G01R 31/58
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
58Testing of lines, cables or conductors
Déposants
  • IDEAL INDUSTRIES, INC. [US/US]; Becker Place Sycamore, IL 60178, US
Inventeurs
  • WHITE, Charles, Michael; US
  • SMITH, Barry, James; US
Mandataires
  • BOCK, Joel, H.; Cook, Alex, McFarron, Manzo, Cummings & Mehler, Ltd. 200 W. Adams Street - Suite 2850 Chicago, IL 60606, US
Données relatives à la priorité
09/896,42129.06.2001US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) ELECTRIC CIRCUIT PROVIDING SELECTABLE SHORT CIRCUIT FOR INSTRUMENTATION APPLICATIONS
(FR) CIRCUIT ELECTRIQUE PERMETTANT DES COURTS-CIRCUITS SELECTIONNABLES POUR APPLICATIONS D'INSTRUMENTATION
Abrégé
(EN)
A LAN cable tester circuit (100) is disclosed having measurement end circuit components (30) and shorting end circuit components (132). The measurement end circuit components (30) are conventional and include a multiplexer (34) having a current source (36) and voltage sensing circuitry (38) electrically coupled thereto. The multiplexer (34) also has a plurality of pairs of associated electrical conductors (14, 16) included in the cable (12) under test coupled thereto. The shorting end circuit components (132) include another multiplexer (150) having the opposite ends of the electrical conductors coupled thereto, and further having a differential voltage amplifier (152) and two current output differential amplifiers (154) electrically coupled thereto. The shorting end circuit components (132) provide for an active short that eliminates the effect of the on-resistance attributable to semiconductor integrated circuit multiplexers.
(FR)
La présente invention concerne un circuit d'essai de câbles de LAN (100) comprenant des composants de circuit d'étage de mesure (30) et des composants de circuit d'étage de court-circuit (132). Les composants de circuit de l'étage de mesure (30) sont les composants classiques et comprennent un multiplexeur (34) comportant une source de courant (36) et un circuit de détection de tension (38) qui lui est électriquement relié. Le multiplexeur (34) comprend également une pluralité de paires de conducteurs électriques associés (14, 16) inclus dans le câble (12) soumis à l'essai qui lui est couplé. Les composants de circuit de l'étage de court-circuit (132) comprennent un autre multiplexeur (150) auquel sont couplées les extrémités opposées des conducteurs électriques, et ils comprennent également un amplificateur différentiel de tension (152) et deux amplificateurs différentiels de sortie de courant (154) qui lui sont reliés électriquement. Les composants de circuit de l'étage de court-circuit (132) assurent un court-circuit actif qui élimine l'effet de la résistance à l'état passant attribuable aux multiplexeurs à circuits intégrés semiconducteurs.
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