Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

1. WO2003003380 - RESEAU DE DIFFRACTION MULTICOUCHE POUR UNE MONOCHROMATISATION ET UNE SPECTROSCOPIE

Numéro de publication WO/2003/003380
Date de publication 09.01.2003
N° de la demande internationale PCT/US2002/020751
Date du dépôt international 27.06.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 07.01.2003
CIB
G21K 1/06 2006.01
GPHYSIQUE
21PHYSIQUE NUCLÉAIRE; TECHNIQUE NUCLÉAIRE
KTECHNIQUES NON PRÉVUES AILLEURS POUR MANIPULER DES PARTICULES OU DES RAYONNEMENTS IONISANTS; DISPOSITIFS D'IRRADIATION; MICROSCOPES À RAYONS GAMMA OU À RAYONS X
1Dispositions pour manipuler des particules ou des rayonnements ionisants, p.ex. pour focaliser ou pour modérer
06utilisant la diffraction, la réfraction ou la réflexion, p.ex. monochromateurs
CPC
B82Y 10/00
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
82NANOTECHNOLOGY
YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
10Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
G02B 5/1809
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
5Optical elements other than lenses
18Diffraction gratings
1809with pitch less than or comparable to the wavelength
G02B 5/1838
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
5Optical elements other than lenses
18Diffraction gratings
1838for use with ultraviolet radiation or X-rays
G21K 1/06
GPHYSICS
21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
1Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
06using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
G21K 1/062
GPHYSICS
21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
1Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
06using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
062Devices having a multilayer structure
Déposants
  • OSMIC, INC. [US/US]; 1900 Taylor Road Auburn Hills, MI 48326, US
Inventeurs
  • MARTYNOV, Vladimir, V.; US
  • PLATONOV, Yuriy; US
Mandataires
  • FREEMAN, John, C.; Brinks Hofer Gilson & Lione P.O. Box 10087 Chicago, IL 60610, US
Données relatives à la priorité
09/896,45829.06.2001US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) MULTI-LAYER GRATING FOR MONOCHROMATIZATION AND SPECTROSCOPY
(FR) RESEAU DE DIFFRACTION MULTICOUCHE POUR UNE MONOCHROMATISATION ET UNE SPECTROSCOPIE
Abrégé
(EN)
An analyzing system (10) comprised of a radiation source (12) that provides a beam (14) of radiation of various wavelengths in the range of 0.3 to 1.0 nm, a sample (16) receives and reflects the incident beam through a slit (19) to a grating (20), a grating (20) that reflects only the zero order of the beam (22), and a detector (24) that detects only the zero order. The grating (20) includes a multi-layer structure (26) that has alternating layers of materials, a plurality of grooves (30) formed between a plurality of lands (32), wherein at least one structural parameter of the plurality of grooves and plurality of lands is formed randomly in the multi-layer structure.
(FR)
L'invention concerne un système d'analyse (10) qui comprend une source de rayonnement (12) fournissant un faisceau (14) de rayonnement de longueurs d'ondes variables dans une plage comprise entre 0,3 et 1,0 nm, un échantillon (16) recevant et réfléchissant le faisceau incident à travers une fente (19) jusqu'à un réseau de diffraction (20), ledit réseau (20) réfléchissant seulement l'ordre 0 dudit faisceau (22), et un détecteur (24) qui détecte seulement l'ordre 0. Ledit réseau de diffraction (20) comprend une structure multicouche (26). Ladite structure comporte des couches alternées de matériaux, une pluralité de sillons (30) formés entre une pluralité d'intersillons (32), au moins un paramètre structural de la pluralité de sillons et de la pluralité d'intersillons étant formé de façon aléatoire dans la structure multicouche.
Également publié en tant que
RU2004114865
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international