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Paramétrages

Paramétrages

1. WO2003003208 - DISPOSITIF ET PROCEDE PERMETTANT DE STOCKER DES DONNEES D'IDENTIFICATION DANS UN CIRCUIT INTEGRE

Numéro de publication WO/2003/003208
Date de publication 09.01.2003
N° de la demande internationale PCT/IB2002/002360
Date du dépôt international 20.06.2002
CIB
G06F 11/00 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
G06F 11/273 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
22Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p.ex. essais de mise en route
26Tests fonctionnels
273Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
G11C 29/44 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
29Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
04Détection ou localisation d'éléments d'emmagasinage défectueux
08Test fonctionnel, p.ex. test lors d'un rafraîchissement, auto-test à la mise sous tension ou test réparti
12Dispositions intégrées pour les tests, p.ex. auto-test intégré
44Indication ou identification d'erreurs, p.ex. pour la réparation
G11C 29/56 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
29Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
56Équipements externes pour test de mémoires statiques, p.ex. équipement de test automatique ; Interfaces correspondantes
H01L 23/544 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
LDISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
23Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
544Marques appliquées sur le dispositif semi-conducteur, p.ex. marques de repérage, schémas de test
CPC
G06F 11/006
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
006Identification
G06F 11/273
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
26Functional testing
273Tester hardware, i.e. output processing circuits
G11C 29/44
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation ; ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
04Detection or location of defective memory elements ; , e.g. cell constructio details, timing of test signals
08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
12Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] ; or interconnection details
44Indication or identification of errors, e.g. for repair
G11C 29/56
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation ; ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
H01L 22/34
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
22Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
30Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements
34Circuits for electrically characterising or monitoring manufacturing processes, e. g. whole test die, wafers filled with test structures, on-board-devices incorporated on each die, process control monitors or pad structures thereof, devices in scribe line
H01L 2924/0002
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
2924Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
0001Technical content checked by a classifier
0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Déposants
  • KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven, NL
Inventeurs
  • RIEGER, Edgar; NL
  • POSCH, Stefan; NL
  • VORREITER, Johann; NL
Mandataires
  • WEBER, Helmut; Internationaal Octrooibureau B.V. Prof. Holstlaan 6 NL-5656 AA Eindhoven, NL
Données relatives à la priorité
01890200.727.06.2001EP
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) DEVICE FOR AND METHOD OF STORING IDENTIFICATION DATA IN AN INTEGRATED CIRCUIT
(FR) DISPOSITIF ET PROCEDE PERMETTANT DE STOCKER DES DONNEES D'IDENTIFICATION DANS UN CIRCUIT INTEGRE
Abrégé
(EN)
In a device (1), which is preferably a test device (1), there are provided data generating means (5) for generating device identification data (DIDA) significant with regard to the device (1) itself, which device identification data (DIDA) may be fed to an integrated circuit (2) introduced into the device (1), the integrated circuit (2) comprising a memory (12), with a memory area (13) which is provided and designed to store the device identification data (DIDA)
(FR)
L'invention concerne un dispositif (1), de préférence un dispositif d'essai (1), comprenant des moyens de génération (5) de données qui permettent de générer des données d'identification de dispositif (DIDA) significatives par rapport audit dispositif (1). Ce dispositif (DIDA) peut être relié à un circuit intégré (2) installé dans ledit dispositif (1). Le circuit intégré (2) comprend une mémoire (12) dotée d'une zone (13) destinée et conçue pour stocker des données d'identification de dispositif (DIDA).
Également publié en tant que
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