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1. (WO2002095490) PROCEDE ET APPAREIL DE REGLAGE DU POTENTIEL DE DECALAGE CC DANS UN AFFICHEUR A CRISTAUX LIQUIDES (ACL)
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/095490    N° de la demande internationale :    PCT/US2002/015216
Date de publication : 28.11.2002 Date de dépôt international : 13.05.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    17.12.2002    
CIB :
G02F 1/1333 (2006.01), G02F 1/1337 (2006.01), G02F 1/1343 (2006.01)
Déposants : THREE-FIVE SYSTEMS, INC. [--/US]; 1600 North Desert Drive, Tempe, AZ 85281-1230 (US) (Tous Sauf US).
ILCISIN, Kevin, J. [--/US]; (US) (US Seulement).
MCKNIGHT, DOUGLAS, J. [--/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : ILCISIN, Kevin, J.; (US).
MCKNIGHT, DOUGLAS, J.; (US)
Mandataire : INGRASSIA, Vincent, B.; Ingrassia Fisher & Lorenz, P.C., 7150 E. Camelback Rd., Ste. 325, Scottsdale, AZ 85251 (US)
Données relatives à la priorité :
09/863,211 21.05.2001 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR ADJUSTED DC OFFSET POTENTIAL IN A LIQUID CRYSTAL DISPLAY (LCD) DEVICE
(FR) PROCEDE ET APPAREIL DE REGLAGE DU POTENTIEL DE DECALAGE CC DANS UN AFFICHEUR A CRISTAUX LIQUIDES (ACL)
Abrégé : front page image
(EN)Methods and apparatus for adjusting or reducing intrinsic DC offset potential in a Liquid Crystal Display (LDC) are taught. The methods allow the upper and lower assemblies of the LCD device to be manufactured with selected materials while achieving adjusted or reduced intrinsic DC offset potential in the finished LCD device. The methods are especially useful for reflective LCD designs where it is not possible to build the LCD with symmetric assemblies.
(FR)L'invention concerne des procédés et un appareil destinés à régler ou réduire le potentiel de décalage CC intrinsèque dans un afficheur à cristaux liquides (ACL). Ces procédés permettent de fabriquer les ensembles supérieur et inférieur de l'afficheur ACL avec des matériaux sélectionnés tout en obtenant un potentiel de décalage CC intrinsèque réglé ou réduit dans l'afficheur ACL fini. Lesdits procédés sont notamment utiles pour des conceptions d'afficheurs ACL rétroréfléchissants ne permettant pas l'utilisation d'ensembles symétriques.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)