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1. (WO2002091006) PROCEDE DE MESURE DE LA RESISTANCE DES FUSIBLES DANS UNE MATRICE DE FUSIBLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/091006    N° de la demande internationale :    PCT/IB2002/001526
Date de publication : 14.11.2002 Date de dépôt international : 02.05.2002
CIB :
G01R 31/07 (2006.01), G11C 29/50 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL)
Inventeurs : KHOURY, Elie, G.; (NL)
Mandataire : DUIJVESTIJN, Adrianus, J.; Internationaal Octrooibureau B.V., Prof. Holstlaan 6, NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
09/851,964 10.05.2001 US
Titre (EN) METHOD FOR MEASURING FUSE RESISTANCE IN A FUSE ARRAY
(FR) PROCEDE DE MESURE DE LA RESISTANCE DES FUSIBLES DANS UNE MATRICE DE FUSIBLES
Abrégé : front page image
(EN)In a method of measuring fuse resistance in a fuse array, the P-MOS switches used for row address are replaced by a pass-gate device comprising an N-MOS in parallel with a P-MOS, with a close to zero voltage drop. By this means a reduced power source current is applied across the fuse. The voltage drop is measured and the resistance obtained. Thus non-destructive testing is carried out as compared to destructive testing with the prior art method.
(FR)L'invention concerne un procédé permettant de mesurer la résistance des fusibles dans une matrice de fusibles. Selon le mode de réalisation décrit dans cette invention, les commutateurs P-MOS utilisés pour l'adresse des lignes sont remplacés par un dispositif à grilles passantes qui comprend un N-MOS placé en parallèle avec un P-MOS, avec une chute de tension admissible proche de zéro. Ce mode de réalisation permet d'appliquer un courant source de puissance réduite à travers le fusible. La chute de tension admissible est mesurée et la résistance est obtenue. Ce mode de réalisation permet d'effectuer des essais non-destructeurs par rapport aux essais destructeurs effectuer dans le mode de réalisation de l'état de la technique.
États désignés : JP.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)