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1. (WO2002088759) PROCEDE ET CIRCUIT PERMETTANT DE TESTER DES CIRCUITS DE SIGNALISATION HAUTE FREQUENCE MIXTES A L'AIDE DE SIGNAUX BASSE FREQUENCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/088759    N° de la demande internationale :    PCT/US2002/012273
Date de publication : 07.11.2002 Date de dépôt international : 19.04.2002
CIB :
G01R 31/3167 (2006.01)
Déposants : LOGICVISION, INC. [US/US]; 101 Metro Drive Third Floor San Jose, CA 95110 (US) (Tous Sauf US).
SUNTER, Stephen, K. [CA/CA]; (CA) (US Seulement)
Inventeurs : SUNTER, Stephen, K.; (CA)
Mandataire : PROULX, Eugene, E.; LogicVision (Canada), Inc. 1525 Carling Avenue, Suite 404 Ottawa, Ontario K1Z 8R9 (CA)
Données relatives à la priorité :
09/842,700 27.04.2001 US
Titre (EN) METHOD AND CIRCUIT FOR TESTING HIGH FREQUENCY MIXED SIGNAL CIRCUITS WITH LOW FREQUENCY SIGNALS
(FR) PROCEDE ET CIRCUIT PERMETTANT DE TESTER DES CIRCUITS DE SIGNALISATION HAUTE FREQUENCE MIXTES A L'AIDE DE SIGNAUX BASSE FREQUENCE
Abrégé : front page image
(EN)A method of testing an analog (106), or mixed analog and digital (122), circuit (100) designed for operation at a clock frequency including multiplexing (104) a plurality of low frequency stimulus signals (103) using a high frequency clock to produce a circuit input signal (105), applying the input signal (105) to the circuit (106) to obtain a circuit output signal (109); sampling the circuit output signal (109) synchronously with the high frequency clock at a frequency equal to the clock frequency divided by the number of the low frequency signals; storing the samples and measuring properties of the signal samples to determine properties of the output signal of the circuit.
(FR)L'invention concerne un procédé permettant de tester un circuit (100) analogique (106), ou mixte analogique et numérique (122), conçu pour fonctionner à la fréquence d'horloge. Ce procédé consiste à multiplexer (104) une pluralité de signaux (103) de stimulus basse fréquence au moyen d'une horloge haute fréquence afin de produire un signal (105) d'entrée dans le circuit, à appliquer le signal (105) d'entrée au circuit (106) de manière à obtenir un signal (109) de sortie de circuit, puis à échantillonner le signal (109) de sortie de circuit en synchronisation avec l'horloge haute fréquence, à une fréquence correspondant à la fréquence d'horloge divisée par le nombre de signaux basse fréquence, et à mémoriser les échantillons et à mesurer les caractéristiques des échantillons de signal afin de déterminer les caractéristiques du signal de sortie du circuit.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)