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1. (WO2002088630) PROCEDE ET DISPOSITIF DE VERIFICATION ET D'IDENTIFICATION D'UN DISPOSITIF DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/088630    N° de la demande internationale :    PCT/BE2002/000061
Date de publication : 07.11.2002 Date de dépôt international : 24.04.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    25.11.2002    
CIB :
G01B 11/00 (2006.01)
Déposants : KRYPTON ELECTRONIC ENGINEERING N.V. [BE/BE]; Interleuvenlaan 86, B-3001 Leuven (BE) (Tous Sauf US).
VAN DEN BOSSCHE, Alex [BE/BE]; (BE) (US Seulement)
Inventeurs : VAN DEN BOSSCHE, Alex; (BE)
Mandataire : CALLEWAERT, Koen; Bureau Callewaert b.v.b.a., Brusselsesteenweg 108, B-3090 Overijse (BE)
Données relatives à la priorité :
2001/0280 24.04.2001 BE
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR THE VERIFICATION AND IDENTIFICATION OF A MEASURING DEVICE
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF DE VERIFICATION ET D'IDENTIFICATION D'UN DISPOSITIF DE MESURE
Abrégé : front page image
(EN)The invention concerns a method and a reference object for the verification and identification of a measuring device for measuring the spatial position of one or several points situated in the measuring volume (9) of the measuring device, whereby the measuring device is calibrated, according to which calibration a mathematical model is calculated which makes it possible to determine the spatial position of a point perceived by the measuring device, whereby a reference object (1) with predetermined dimensions is provided in the measuring volume (9), and, next, the position of several points of this reference object (1) is determined by means of the measuring device, whereby the mutual situation of the thus determined position of the points is calculated and compared to the actual dimensions and, on the basis of the thus established deviations between the measured mutual position of the points and the actual dimensions, said model is adjusted.
(FR)L'invention concerne un procédé et un objet de référence destinés à la vérification et à l'identification d'un dispositif de mesure permettant de mesurer la position spatiale d'un ou de plusieurs points situés dans le volume de mesure (9) du dispositif de mesure. Le procédé consiste à étalonner le dispositif de mesure, cet étalonnage permettant de calculer un modèle mathématique rendant possible la détermination de la position spatiale d'un point perçu par le dispositif de mesure, un objet de référence (1) de dimensions déterminées étant placé dans le volume de mesure (9), puis à déterminer la position de plusieurs points de cet objet de référence (1) au moyen du dispositif de mesure. La situation mutuelle de la position des points, ainsi déterminée, est calculée et comparée aux dimension réelles et, sur la base des déviations ainsi établies entre la position mutuelle mesurée des points et les dimensions réelles, le modèle est ajusté.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : néerlandais; flamand (NL)