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1. (WO2002087033) APPAREIL ET PROCÉDÉ LASER À FRÉQUENCE MODULÉE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/087033    N° de la demande internationale :    PCT/US2002/010118
Date de publication : 31.10.2002 Date de dépôt international : 01.04.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    11.11.2002    
CIB :
H01S 5/06 (2006.01), H01S 5/062 (2006.01)
Déposants : HRL LABORATORIES, LLC [US/US]; 3011 Malibu Canyon Road, Malibu, CA 90265-4799 (US) (Tous Sauf US).
HAYES, Robert, R. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : HAYES, Robert, R.; (US)
Mandataire : BERG, Richard, P.; Ladas & Parry, 5670 Wilshire Boulevard, Suite 2100, Los Angeles, CA 90036-5679 (US)
Données relatives à la priorité :
09/838,676 19.04.2001 US
Titre (EN) FREQUENCY MODULATED LASER APPARATUS AND METHOD
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ LASER À FRÉQUENCE MODULÉE
Abrégé : front page image
(EN)A frequency modulated laser comprises a laser cavity (410) in which the gain section of the laser cavity (410) is imbedded within a phase modulation section of the cavity. The laser cavity further comprises electrically-sensitive material, so that an electric field applied across thelaser cavity (410) changes the index of refraction with the laser cavity (410) according to the magnitude of the change in the electric field. Uniformly and simultaneously changing the index of refraction along the laser cavity length modulates the frequency of the laser light (430) produced within the laser cavity (410). The upper bound of the frequency modulation is limited by the propagation time for the electric field to cross the laser cavity.
(FR)L'invention concerne un laser à fréquence modulée comportant une cavité de laser (410) dans laquelle la section de gain de cette cavité (410) est encastrée dans une section de modulation de phase de celle-ci. La cavité du laser comprend, en outre, un matériau électrosensible de manière que le champ électrique appliqué à travers la cavité de laser (410) change l'indice de réfraction avec la cavité de laser (410) en fonction de la magnitude du changement dans le champ électrique. Le changement uniforme et simultané de l'indice de réfraction dans la longueur de la cavité de laser module la fréquence de la lumière laser (430) produite à l'intérieur de la cavité de laser (410). La liaison supérieure de la modulation de fréquence est limitée par le temps de propagation nécessaire au champ électrique afin de traverser la cavité de laser.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)