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1. (WO2002084669) SYSTEME ET PROCEDE DE TEST D'EFFACEMENT DE DISPOSITIF A CIRCUIT INTEGRE COMPRENANT DES SECTEURS DE DIMENSIONS DIFFERENTES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/084669    N° de la demande internationale :    PCT/US2001/045442
Date de publication : 24.10.2002 Date de dépôt international : 30.10.2001
CIB :
G11C 29/50 (2006.01)
Déposants : ADVANCED MICRO DEVICES, INC. [US/US]; One AMD Place Mail Stop 68 Sunnyvale, CA 94088-3453 (US)
Inventeurs : NAKSRIKRAM, Janevoot; (TH).
SURAPHAK, Aeksit; (US).
JUNNAPART, Jitrayut; (TH)
Mandataire : RODDY, Richard, J.; Advanced Micro Devices, Inc. One AMD Place, Mail Stop 68 Sunnyvale, CA 94088-3453 (US)
Données relatives à la priorité :
09/836,065 16.04.2001 US
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR ERASE TEST OF INTEGRATED CIRCUIT DEVICE HAVING NON-HOMOGENEOUSLY SIZED SECTORS
(FR) SYSTEME ET PROCEDE DE TEST D'EFFACEMENT DE DISPOSITIF A CIRCUIT INTEGRE COMPRENANT DES SECTEURS DE DIMENSIONS DIFFERENTES
Abrégé : front page image
(EN)A system and method for testing a flash memory device (10) having uniform sectors (4, 5, 6) and smaller, "boot" sectors (0, 1, 2) includes determining uniform and boot test limits based on average erase (24) and APDE (28) time periods of the uniform (4, 5, 6) and boot sectors (0-2) respectively. In this way, the erase test results (24) for each sector type is compared (36) against test limits that are based only on that sector type, thereby avoiding excessive false rejects.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé permettant de tester une mémoire flash (10) comprenant des secteurs uniformes (4, 5, 6) et des secteurs 'd'amorce' plus petits (0, 1, 2). Le procédé consiste à déterminer les limites des tests des secteurs d'amorce et des secteurs uniformes en fonction des laps de temps moyens d'effacement (24) et APDE (28) des secteurs uniformes (4, 5, 6) et des secteurs d'amorce (0, 1, 2) respectivement. De cette manière, le résultat (24) du test d'effacement (24) pour chaque type de secteur est comparé (36) avec les limites des test qui sont fondées uniquement sur ce type de secteur; ce qui permet d'éviter des rejets d'erreurs massifs.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)