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1. (WO2002084313) SONDE ET DISPOSITIF DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/084313    N° de la demande internationale :    PCT/CH2001/000246
Date de publication : 24.10.2002 Date de dépôt international : 18.04.2001
CIB :
G01R 1/073 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : ISMECA HOLDING SA [CH/CH]; 283 rue de l'Helvétie CH-2300 La Chaux-de-Fonds (CH) (Tous Sauf US).
PERRET, Joël [CH/CH]; (CH) (US Seulement)
Inventeurs : PERRET, Joël; (CH)
Mandataire : FORNEROD, Francis; Patents & Technology Surveys SA B.P. 1448 CH-2001 Neuchâtel (CH)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) MEASURING PROBE AND DEVICE
(FR) SONDE ET DISPOSITIF DE MESURE
Abrégé : front page image
(EN)The invention concerns a measuring probe (1) comprising a plurality of measuring portions (11) including each contact pads (21) arranged on tabs (12) for measuring electrical characteristics of an integrated circuit (3). The tabs (12) have been specially designed to increase their flexibility, thereby enabling the IC measurements whereof the contact pins (30) are misaligned. The invention also concerns a measuring device and a measuring method for simultaneous measurement of a plurality of integrated circuits.
(FR)La sonde de mesure (1) comprend une pluralité de portions de mesure (11) comprenant chacune des pastilles de contact (21) disposées sur des languettes (12) pour le mesure de caractéristiques électriques de CI (3). Les languettes (12) ont été spécialement aménagées afin d"augmenter leur flexibilité, permettant ainsi la mesure de CI dont les pattes de contact (30) sont mal alignés. Un dispositif de mesure et un procédé de mesure sont décrits permettant la mesure simultanée d"une pluralité de CI.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)