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1. (WO2002083373) DISPOSITIF ET PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN ROBOT INDUSTRIEL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/083373    N° de la demande internationale :    PCT/SE2002/000755
Date de publication : 24.10.2002 Date de dépôt international : 16.04.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    15.11.2002    
CIB :
B25J 9/16 (2006.01), G01C 9/00 (2006.01), G01C 25/00 (2006.01)
Déposants : ABB AB [SE/SE]; Kopparbergsvägen 2, S-721 83 Västeras (SE)
Inventeurs : BROGÅRDH, Torgny; (SE).
JERREGÅRD, Henrik; (SE).
ROBERTSON, Alec; (SE).
SLOCUM, Alexander; (US).
WILLOUGHBY, Patrick; (US)
Mandataire : BJERKÉNS PATENTBYRÅ KB; Box 128, S-721 05 Västeras (SE)
Données relatives à la priorité :
09/835,350 17.04.2001 US
Titre (EN) A DEVICE AND A METHOD FOR CALIBRATION OF AN INDUSTRIAL ROBOT
(FR) DISPOSITIF ET PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN ROBOT INDUSTRIEL
Abrégé : front page image
(EN)A device (7) for calibration of an industrial robot, which calibration device is adapted for being in contact during the calibration with at least one plane of reference arranged on the robot, the calibration device comprises an angle measuring member arranged for measuring an angle relative to the vertical line. The device further comprises at least two contact elements each having a curved surface, and the contact elements are arranged so that the device is in contact with the plane of reference through said curved surfaces.
(FR)L'invention concerne un dispositif (7) permettant d'étalonner un robot industriel, conçu pour être en contact, lors de l'étalonnage, avec au moins un plan de référence disposé sur le robot. Le dispositif d'étalonnage comprend un élément de mesure d'angle pour mesurer un angle par rapport à la verticale. Le dispositif comprend en outre au moins deux éléments de contact, chacun ayant une surface incurvée, disposés de façon que le dispositif soit en contact avec le plan de référence par le biais desdites surfaces incurvées.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)