WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2002080156) PROCEDE DE MESURE DE DECALAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/080156    N° de la demande internationale :    PCT/JP2002/002864
Date de publication : 10.10.2002 Date de dépôt international : 25.03.2002
CIB :
G11B 7/09 (2006.01)
Déposants : MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma Kadoma-shi, Osaka 571-8501 (JP) (Tous Sauf US).
KITAYAMA, Machiko [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KUWAHARA, Masaya [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TAI, Yasuhiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KITAYAMA, Machiko; (JP).
KUWAHARA, Masaya; (JP).
TAI, Yasuhiro; (JP)
Mandataire : YAMAMOTO, Shusaku; Fifteenth Floor, Crystal Tower 2-27, Shiromi 1-chome, Chuo-ku Osaka-shi, Osaka 540-6015 (JP)
Données relatives à la priorité :
2001-95735 29.03.2001 JP
Titre (EN) OFFSET MEASURING METHOD
(FR) PROCEDE DE MESURE DE DECALAGE
Abrégé : front page image
(EN)An offset measuring method for measuring offset superimposed on a tracking error signal, comprising the step of measuring a first offset amount by applying a light beam onto a first measuring position, the step of moving a moving means mounting an optical pickup thereon in a first direction by a first distance after the measuring step, the first optical pickup drive step of driving the optical pickup on the moving means in a second direction opposite to the first direction by a second distance substantially equal to the first distance, and the step of measuring a second offset amount by applying a light beam onto a second measuring position after the moving means moving step and the first optical pickup drive step.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure de décalage permettant de mesurer le décalage superposé sur un signal d'erreur de poursuite. Ce procédé consiste à mesurer une première valeur de décalage par l'application d'un faisceau lumineux sur une première position de mesure; à déplacer un moyen mobile portant un capteur optique dans une première direction, sur une première distance, après l'étape de mesure; à entraîner le premier capteur optique disposé sur le moyen mobile dans une deuxième direction opposée à la première, sur une deuxième distance sensiblement égale à la première; et à mesurer une deuxième valeur de décalage par l'application d'un faisceau lumineux sur une deuxième position de mesure, après l'étape de déplacement du moyen mobile et l'étape d'entraînement du premier capteur optique.
États désignés : CN, KR, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)