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1. (WO2002078185) CIRCUITS SEQUENTIELS EFFICACES A COMMANDE D'ACCROCHAGE CRITIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/078185    N° de la demande internationale :    PCT/US2002/008960
Date de publication : 03.10.2002 Date de dépôt international : 20.03.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    15.10.2002    
CIB :
H03K 3/037 (2006.01)
Déposants : BAE SYSTEMS INFORMATION AND ELECTRONIC SYSTEMS INTEGRATION INC. [US/US]; 65 Spitbrook Road, Nashua, NH 03061 (US) (Tous Sauf US).
LOWY, Menahem [US/US]; (US) (US Seulement).
BUTLER, Neal [US/US]; (US) (US Seulement).
TINKLER, Rosanne [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : LOWY, Menahem; (US).
BUTLER, Neal; (US).
TINKLER, Rosanne; (US)
Mandataire : ASMUS, Scott; Maine & Asmus, PO Box 3445, Nashua, NH 03061-3445 (US)
Données relatives à la priorité :
60/277,687 21.03.2001 US
09/947,044 05.09.2001 US
Titre (EN) EFFICIENT SEQUENTIAL CIRCUITS USING CRITICAL RACE CONTROL
(FR) CIRCUITS SEQUENTIELS EFFICACES A COMMANDE D'ACCROCHAGE CRITIQUE
Abrégé : front page image
(EN)Methods and apparatus for controlling critical races in sequential circuits (Q1, Q2) so that the there are no conflicts when two or more different data signals exists on shared circuits paths. This enables the design and implementation of sequential circuits having fewer gates than conventional circuit designs of equivalent function that translates into smaller area and power consumption. In one embodiment the control of the critical race is accomplished by adjusting the relative delay of the individual sections of one or more loops (G1, G3, TG3, TG2B).
(FR)La présente invention concerne des procédés et un appareil destinés à commander des accrochages critiques dans des circuits séquentiels (Q1, Q2) de façon qu'il n'y ait aucun conflit lorsqu'au moins deux signaux différents existent sur des tracés de circuits partagés. Ceci permet une conception et une mise en oeuvre de circuits séquentiels dont les portes sont moins nombreuses que dans les conceptions de circuit classique à fonction équivalente, ce qui se traduit par un gain de surface et de consommation électrique. Dans un mode de réalisation de l'invention, la commande d'accrochage critique est réalisée par le réglage du délai relatif des sections individuelles d'au moins une boucle (G1, G3, TG3, TG2B).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)