WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2002077618) PROCEDE ET APPAREIL POUR IDENTIFIER UN PLASTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/077618    N° de la demande internationale :    PCT/JP2002/002879
Date de publication : 03.10.2002 Date de dépôt international : 26.03.2002
CIB :
G01N 33/44 (2006.01), G01N 21/27 (2006.01), G01N 21/35 (2014.01), G01N 21/552 (2014.01)
Déposants : MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. [JP/JP]; 1006-banchi, Oaza-Kadoma Kadoma-shi, Osaka 571-8501 (JP) (Tous Sauf US).
HISAZUMI, Takao [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
GOTOH, Teruo [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
IRIE, Shouichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : HISAZUMI, Takao; (JP).
GOTOH, Teruo; (JP).
IRIE, Shouichi; (JP)
Mandataire : IKEUCHI SATO & PARTNER PATENT ATTORNEYS; 26th Floor, OAP TOWER, 8-30, Tenmabashi 1-chome, Kita-ku Osaka-shi, Osaka 530-6026 (JP)
Données relatives à la priorité :
2001-89477 27.03.2001 JP
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR IDENTIFYING PLASTIC
(FR) PROCEDE ET APPAREIL POUR IDENTIFIER UN PLASTIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A method for discriminating the kind of a plastic material by preparing a test piece of a plastic material, measuring infrared spectrum of the test piece by attenuated total reflectance, and comparing an obtained infrared spectrum with that of a known plastic, wherein, the test piece has a cut face and measurement of infrared spectrum of the test piece is performed by touching a crystal for attenuated total reflectance to the cut face of the test piece.
(FR)L'invention concerne un procédé pour reconnaître le type d'un matériau plastique. Ce procédé consiste à préparer un échantillon d'un matériau plastique, à mesurer le spectre infrarouge dudit échantillon par réflectance totale atténuée puis à comparer un spectre infrarouge obtenu avec celui d'un plastique connu. Selon cette invention, ledit échantillon présente une face coupée et la mesure du spectre infrarouge de cet échantillon est effectuée par mise en contact d'un cristal à réflectance totale atténuée avec la face coupée de l'échantillon.
États désignés : CN, CZ, IN, KR, MX, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)