(EN) Techniques for monitoring the quality (e.g., optical and mechanical properties) in optical waveguides (30) (e.g., photonic crytal fibers) are disclosed. Additionally, techniques for detecting and localizing defects in the waveguides are also described. Pulses of light (110) are launched into one end of an optical waveguide (30). The amount of light scattered out of the same end of the waveguide (30) (i.e., a backscattered or reflected signal) is monitored (140) at certain wavelengths specific to the spectral characteristics of the waveguide. Transmission characteristics and defect localization can be determined from the backscattered signal (150).
(FR) La présente invention concerne des procédés de contrôle de la qualité (par exemple, des propriétés optiques et mécaniques) de guides d'ondes optiques (par exemple, de fibres à cristal photonique). L'invention se rapporte en outre à des procédés permettant de détecter et de localiser des défauts dans des guides d'ondes. Selon l'invention, on introduit des impulsions lumineuses à une extrémité d'un guide d'ondes optiques, on contrôle la quantité de lumière diffusée en dehors de ce dernier à la même extrémité (c'est-à-dire le signal rétrodiffusé ou réfléchi) à certaines longueurs d'ondes spécifiques des caractéristiques spectrales du guide d'ondes. On peut déterminer les caractéristiques de transmission et localiser les défauts à partir de ce signal rétrodiffusé.
