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1. (WO2002050519) DIFFRACTOMETRE DE RAYONS X
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/050519    N° de la demande internationale :    PCT/IB2001/002401
Date de publication : 27.06.2002 Date de dépôt international : 06.12.2001
CIB :
G01N 23/20 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL)
Inventeurs : FEWSTER, Paul, F.; (NL).
ANDREW, Norman, L.; (NL)
Mandataire : WHITE, Andrew, G.; International Octrooibureau B.V., Prof Holstlaan 6, NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
0031040.9 20.12.2000 GB
Titre (EN) X-RAY DIFFRACTOMETER
(FR) DIFFRACTOMETRE DE RAYONS X
Abrégé : front page image
(EN)An X-ray diffractometer has an X-ray source (10), a double pinhole collimator (14), a sample (22) mounted on a rotatable sample stage (20), an analyser crystal (30) and a detector (34). The analyser crystal and detector are arranged to rotate together about an axis (21) that is coaxial with the axis of rotation of the sample stage. Very few scattered X-rays (26) reach the detector (34). The diffractometer has particular use for routine quality control measurements.
(FR)L'invention se rapporte à un diffractomètre de rayons X comportant une source de rayons X (10), un collimateur sténopéique double (14), un échantillon monté sur un étage d'échantillon rotatif (20), un cristal analyseur (30) et un détecteur (34). Le cristal et le détecteur sont disposés de manière à tourner ensemble autour d'un axe (21) coaxial par rapport à l'axe de rotation de l'étage d'échantillon. Très peu de rayons X diffusés (26) atteignent le détecteur (34). Le diffractomètre de cette invention est spécialement indiqué pour effectuer des mesures de contrôle de qualité de routine.
États désignés : JP.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)