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1. (WO2002050502) PROCEDE D'ETALONNAGE DU CHAMP MAGNETIQUE D'UN THERMOMETRE AVEC DEPENDANCE AU CHAMP MAGNETIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

demande internationale considérée comme retirée 2003-05-16 00:00:00.0


N° de publication :    WO/2002/050502    N° de la demande internationale :    PCT/JP2001/011100
Date de publication : 27.06.2002 Date de dépôt international : 18.12.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    24.05.2002    
CIB :
G01K 7/36 (2006.01), G01K 15/00 (2006.01)
Déposants : JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY CORPORATION [JP/JP]; 1-8, Hon-cho 4-chome, Kawaguchi-shi, Saitama 332-0012 (JP) (Tous Sauf US).
NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 3-1, Kasumigaseki 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 100-8921 (JP) (Tous Sauf US).
QUANTUM DESIGN JAPAN INC. [JP/JP]; Sanpouikebukurobiruanekkusu, 4-32-8, Ikebukuro, Toshima-ku, Tokyo 171-0014 (JP) (Tous Sauf US).
TANAKA, Yasumoto [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
IYO, Akira [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
SHIRAKAWA, Naoki [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
IKEDA, Shinnichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
IHARA, Yoshiko [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
IHARA, Hideyo [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
IHARA, Hidetaka [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
IHARA, Gen-ei [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
IHARA, Chiaki [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TOKIWA, Kazuyasu [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
WATANABE, Tsuneo [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KAMIMURA, Akira [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
McArthur III, John Ellis [US/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : TANAKA, Yasumoto; (JP).
IYO, Akira; (JP).
SHIRAKAWA, Naoki; (JP).
IKEDA, Shinnichi; (JP).
TOKIWA, Kazuyasu; (JP).
WATANABE, Tsuneo; (JP).
KAMIMURA, Akira; (JP).
McArthur III, John Ellis; (JP).
IHARA, Hideo;
Mandataire : HIRAYAMA, Kazuyuki; 6th Floor, Shinjukugyoen Bldg., 3-10, Shinjuku 2-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 160-0022 (JP)
Données relatives à la priorité :
2000-386049 19.12.2000 JP
Titre (EN) METHOD FOR CALIBRATING MAGNETIC FIELD OF THERMOMETER HAVING MAGNETIC FIELD DEPENDENCE
(FR) PROCEDE D'ETALONNAGE DU CHAMP MAGNETIQUE D'UN THERMOMETRE AVEC DEPENDANCE AU CHAMP MAGNETIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A method capable of easily performing magnetic field calibration of a thermometer having magnetic field dependence. The temperature dependence of a physical quantity of a substance having a physical quantity which is independent on a magnetic field is measured (Step 1), the substance and the thermometer having the magnetic field dependence and to be subjected to magnetic field calibration are maintained at the same temperature for each of the temperatures in the magnetic field (Step 2), the temperature indicated by the thermometer is obtained, and the physical quantity is measured by a measuring method having no magnetic field dependence (Step 3), the temperature is determined from the physical quantity and the temperature dependence of the physical quantity, and the magnetic field calibration value of the thermometer having the magnetic field dependence is obtained from the temperature and the indicated temperature at each temperature in the magnetic field (Step 4). In such steps, since the temperature dependence of the specific heat having no magnetic field dependence is measured with no external magnetic field, the temperature dependence characteristic curve of the specific heat can be easily obtained, and the correct temperature can be obtained from the specific heat by utilizing the temperature dependence characteristic curve. This method is considerably useful if applied to an engineering field needing the temperature measurement at a very low temperature and in a high magnetic field.
(FR)Cette invention se rapporte à un procédé qui est capable de réaliser aisément l'étalonnage du champ magnétique d'un thermomètre avec dépendance au champ magnétique. A cet effet, la dépendance thermique d'une quantité physique d'une substance ayant une quantité physique indépendante d'un champ magnétique est mesurée (étape 1), cette substance et le thermomètre avec dépendance au champ magnétique et devant être soumis à un étalonnage du champ magnétique sont maintenus à la même température pour chacune des températures dans le champ magnétique (étape 2), la température indiquée par le thermomètre est obtenue, et la quantité physique est mesurée par une technique de mesure sans dépendance au champ magnétique (étape 3), la température est déterminée à partir de la quantité physique et de la dépendance thermique de cette quantité physique, et la valeur d'étalonnage du champ magnétique du thermomètre avec dépendance au champ magnétique est obtenue à partir de cette température et de la température indiquée à chaque température dans le champ magnétique (étape 4). Dans ces étapes, dès lors que la dépendance thermique de la chaleur spécifique sans dépendance au champ magnétique est mesurée sans champ magnétique externe, la courbe de caractéristique de dépendance thermique de cette chaleur spécifique peut être facilement obtenue, et la température correcte peut être obtenue à partir de cette chaleur spécifique, en utilisant la courbe de caractéristique de dépendance thermique. Ce procédé est très utile lorsqu'il est appliqué à un domaine technique nécessitant une mesure de température à une température très basse et dans un champ magnétique élevé.
États désignés : US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)