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1. (WO2002049221) PROCEDE ET APPAREIL SERVANT A MESURER LA QUALITE DE LA FORME D'ONDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/049221    N° de la demande internationale :    PCT/US2001/047758
Date de publication : 20.06.2002 Date de dépôt international : 13.12.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    12.07.2002    
CIB :
H04B 1/00 (2006.01), H04B 17/00 (2006.01)
Déposants : QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; 5775 Morehouse Drive, San Diego, CA 92121-1714 (US)
Inventeurs : MONTOJO, Juan; (US).
SINDHUSHAYANA, Nagabhushana; (US).
BLACK, Peter; (US)
Mandataire : WADSWORTH, Philip, R.; Qualcomm Incorporated, 5775 Morehouse Drive, San Diego, CA 92121-1714 (US)
Données relatives à la priorité :
09/738,586 14.12.2000 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR A WAVEFORM QUALITY MEASUREMENT_____
(FR) PROCEDE ET APPAREIL SERVANT A MESURER LA QUALITE DE LA FORME D'ONDE
Abrégé : front page image
(EN)A method and an apparatus for waveform quality measurement are disclosed. An actual signal, representing a waveform channelized both in time and in code is generated by, e.g., an exemplary HDR communication system. Test equipment generates an ideal waveform corresponding to the actual waveform. The test equipment then generates an estimate of offsets between parameters of the actual waveform and the ideal waveform, and the offsets are used to compensate the actual waveform. The test equipment then evaluates various waveform quality measurements utilizing the compensated actual waveform quality measurements as well as conceptual and practical examples of processing of the actual waveform and the corresponding ideal waveform by the test equipment are disclosed. The disclosed method and apparatus may be extended to any waveform channelized both in time and in code regardless of the equipment that generated the waveform.
(FR)L'invention concerne un procédé et un appareil servant à mesurer la qualité de la forme d'onde. Un signal réel, représentant une forme d'onde canalisée en temps et en code, est généré par un système de communication HDR exemplaire, par exemple. Un équipement de test produit une forme d'onde idéale correspondant à la forme d'onde réelle. Il produit ensuite une estimation des décalages entre les paramètres de la forme d'onde réelle et de la forme d'onde idéale, et les décalages sont utilisés pour corriger la forme d'onde réelle. L'équipement de test évalue ensuite différentes mesures de qualité de la forme d'onde en utilisant la forme d'onde réelle corrigée et la forme d'onde idéale correspondante. L'invention concerne également des définitions des différentes mesures de qualité de la forme d'onde ainsi que des exemples conceptuels et pratiques de traitement de la forme d'onde réelle et de la forme d'onde idéale correspondante par l'équipement de test. Les présents procédé et appareil peuvent être étendus à toute forme d'onde canalisée en temps et en code indépendamment de l'équipement qui a produit la forme d'onde.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)