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1. (WO2002046781) DOUILLE D'ESSAI POUR COMPOSANTS ELECTRONIQUES, ET APPAREIL D'ESSAI POUR COMPOSANTS ELECTRONIQUES UTILISANT CETTE DOUILLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/046781    N° de la demande internationale :    PCT/JP2001/010729
Date de publication : 13.06.2002 Date de dépôt international : 07.12.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    04.07.2002    
CIB :
G01R 1/04 (2006.01), G01R 31/01 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 32-1, Asahicho 1-chome, Nerima-ku, Tokyo 179-0071 (JP) (CN, DE, KR, SG only).
ISHIKAWA, Takaji [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
NAKAMURA, Hiroto [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : ISHIKAWA, Takaji; (JP).
NAKAMURA, Hiroto; (JP)
Mandataire : HAYAKAWA, Yuzi; Arcadia Patent Firm, Suite 501, Hikawa-Annex No.2, 9-5, Akasaka 6-chome, Minato-ku, Tokyo 107-0052 (JP)
Données relatives à la priorité :
2000-373614 07.12.2000 JP
2001-049495 23.02.2001 JP
Titre (EN) SOCKET FOR ELECTRONIC COMPONENT TEST, AND ELECTRONIC COMPONENT TEST APPARATUS USING THE SOCKET
(FR) DOUILLE D'ESSAI POUR COMPOSANTS ELECTRONIQUES, ET APPAREIL D'ESSAI POUR COMPOSANTS ELECTRONIQUES UTILISANT CETTE DOUILLE
Abrégé : front page image
(EN)An electronic component test apparatus capable of controlling the temperature of a socket for electronic component test such as an IC socket without generating noise in the test signals applied to electronic components such as IC devices and response signals read from the electronic components such as IC devices, wherein a first space (67) in a socket base (6) for electronic component test is allowed to communicate with a socket body internal space (75) in a socket (7) for electronic component test through a gas outlet (65) and a gas inlet (76), and a second space (68) in the socket base (6) for electronic component test is allowed to communicate with the socket body internal space (75) in the socket (7) for electronic component test through a gas inlet (66) and a gas outlet (77).
(FR)L'invention concerne un appareil d'essai pour composants électroniques, qui peut réguler la température d'une douille d'essai pour composants électroniques (telle qu'une douille de circuit imprimé) sans produire de bruit dans les signaux d'essai appliqués aux composants électroniques (tels que des dispositifs à circuit imprimé) et les signaux de réponse lus des composants électroniques (tels que des dispositifs à circuit imprimé). Un premier espace (67) dans une base de la douille (6) servant à tester des composants électroniques est conçu pour communiquer avec un espace intérieur (75) du corps de la douille dans une douille (7) servant à tester des composants électroniques, à travers une sortie des gaz (65) et un orifice d'admission des gaz (76). Un second espace (68) dans la base de la douille (6) servant à tester des composants électroniques est conçu pour communiquer avec un espace intérieur (75) du corps de la douille dans la douille (7) servant à tester des composants électroniques, à travers un orifice d'admission des gaz (66) et une sortie des gaz (77).
États désignés : CN, DE, KR, SG, US.
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)