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1. (WO2002045014) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR DETERMINER DES CARACTERISTIQUES D'UN CIRCUIT INTEGRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

demande internationale considérée comme retirée 2002-05-28 00:00:00.0


N° de publication :    WO/2002/045014    N° de la demande internationale :    PCT/EP2001/014004
Date de publication : 06.06.2002 Date de dépôt international : 30.11.2001
CIB :
G01N 21/956 (2006.01), G06T 7/00 (2006.01)
Déposants : SIGMA-C GMBH [DE/DE]; Thomas-Dehler-Strasse 9 81737 München (DE) (Tous Sauf US).
KALUS, Christian, K. [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
MALOV, Iouri [RU/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : KALUS, Christian, K.; (DE).
MALOV, Iouri; (DE)
Mandataire : KUDLEK, F., Thomas; Hössle & Kudlek Postfach 10 23 38 70019 Stuttgart (DE)
Données relatives à la priorité :
100 59 516.2 30.11.2000 DE
Titre (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG VON EIGENSCHAFTEN EINER INTEGRIERTEN SCHALTUNG
(EN) METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING THE PROPERTIES OF AN INTEGRATED CIRCUIT
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR DETERMINER DES CARACTERISTIQUES D'UN CIRCUIT INTEGRE
Abrégé : front page image
(DE)Verfahren zur rechnerischen Bestimmung von Eigenschaften, insbesondere der Integrität, einer integrierten Schaltung, wobei ein rechnerisch simuliertes Bild der Schaltung mit einem Entwurf der Schaltung verglichen, und Abweichungen zwischen Bild und Entwurf festgestellt werden.
(EN)The invention relates to a method for the computer determination of properties, in particular, the integrity of an integrated circuit, whereby a computer simulated image of the circuit is compared with the design of the circuit and differences between image and design are determined.
(FR)L'invention concerne un procédé de détermination computationnelle de caractéristiques, notamment de l'intégrité d'un circuit intégré. Ce procédé consiste à comparer une image du circuit simulée par ordinateur avec une ébauche du circuit et à déterminer les différences entre l'image et l'ébauche.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)