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1. (WO2002025997) CONTROLE DE QUALITE DE TRANSDUCTEURS ELECTROACOUSTIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/025997    N° de la demande internationale :    PCT/DK2001/000605
Date de publication : 28.03.2002 Date de dépôt international : 20.09.2001
CIB :
H04R 29/00 (2006.01)
Déposants : LEONHARD RESEARCH A/S [DK/DK]; Bøge Allé 5 DK-2970 Hørsholm (DK) (Tous Sauf US).
LEONHARD, Frank, Uldall [DK/DK]; (DK) (US Seulement)
Inventeurs : LEONHARD, Frank, Uldall; (DK)
Mandataire : HOFMAN-BANG ZACCO A/S; Hans Bekkevolds Allé 7 DK-2900 Hellerup (DK)
Données relatives à la priorité :
PA 2000 01391 20.09.2000 DK
Titre (EN) QUALITY CONTROL OF ELECTRO-ACOUSTIC TRANSDUCERS
(FR) CONTROLE DE QUALITE DE TRANSDUCTEURS ELECTROACOUSTIQUES
Abrégé : front page image
(EN)In accordance with the invention an excitation signal is fed to the device under test. The excitation signal is preferably a swept or a stepped sine wave signal. A response signal from the device under test is analysed for transients, which preferably involves band pass filtering in one or more distinct frequency bands, rectification of the band pass filtered signals and low pass filtering of the rectified signals. The signals thus analysed for transients are differentiated. After differentiation the signals represent, in each frequency band, the slope or steepness of the response signal from the device under test, and are a good and reiliable quantitiative measure of the presence of possible rub and buzz in the deivce under test. In quality control of eg speaker transducers each of these steepness signals is compared to a predefined threshold value. Transducers with steepness values entirely below the threshold value or values will pass the quality control test, whereas transducers with stepness values entirely below the threshold value or values will pass the quality control test, whereas transducers with steepness values exceeding the threshold value in one or more frequency bands, have failed in teh quality control test. Devices that have failed in the test may then be discarded or possibly repaired.
(FR)Selon l'invention, un signal d'excitation est alimenté dans un dispositif soumis à un essai. Le signal d'excitation est, de préférence, un signal d'onde balayé ou un signal sinusoïdal progressif. Un signal de réponse émanant du dispositif à l'essai est analysé pour des états transitoires mettant en oeuvre, de préférence, un filtrage passe-bande dans une ou plusieurs bandes de fréquence distinctes, un redressement des signaux filtrés en passe-bande, et un filtrage passe-bas des signaux redressés. Le signaux ainsi analysés pour des états transitoires sont différenciés. Après différenciation, les signaux représentent, dans chaque bande de fréquence, la pente d'atténuation ou raideur de pente du signal de réponse émanant du dispositif à l'essai, et constituent une mesure quantitative bonne et fiable de la présence d'éventuels frottement et bourdonnement dans le dispositif à l'essai. En matière de contrôle de qualité de transducteurs de haut-parleur, par exemple, chacun de ces signaux de raideur de pente est comparé avec une valeur de seuil préétablie. Les transducteurs dont les valeurs de raideur sont entièrement inférieures à la valeur ou aux valeurs de seuil réussissent au contrôle de qualité, tandis que les transducteurs dont les valeurs de raideur sont supérieures à la valeur de seuil dans une ou plusieurs bandes de fréquence échouent au contrôle de qualité. Les dispositifs qui ont échoué à l'essai peuvent alors être écartés ou éventuellement réparés.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)