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1. (WO2002025957) MODULE MEMOIRE ET COMPOSANT MEMOIRE A AUTO TEST INTEGRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/025957    N° de la demande internationale :    PCT/US2001/028774
Date de publication : 28.03.2002 Date de dépôt international : 14.09.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    17.04.2002    
CIB :
G11C 29/14 (2006.01)
Déposants : INTEL CORPORATION [US/US]; 2200 Mission College Boulevard Santa Clara, CA 95052 (US) (Tous Sauf US).
HALBERT, John [US/US]; (US) (US Seulement).
BONELLA, Randy [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : HALBERT, John; (US).
BONELLA, Randy; (US)
Mandataire : WISE, Roger, R.; Pillsbury Winthrop Suite 2800 725 South Figueroa Street Los Angeles, CA 90017 (US)
Données relatives à la priorité :
09/664,910 18.09.2000 US
Titre (EN) MEMORY MODULE AND MEMORY COMPONENT BUILT-IN SELF TEST
(FR) MODULE MEMOIRE ET COMPOSANT MEMOIRE A AUTO TEST INTEGRE
Abrégé : front page image
(EN)A memory component with built-in self test includes a memory array. An input/output interface is coupled to the memory array and has a loopback. A controller is provided to transmit memory array test data to the memory array to store the memory array test data, and to read the memory array test data from the memory array. A compare register is also provided to compare the memory array test data transmitted to the memory array with the memory array test data read from the memory array.
(FR)La présente invention concerne un composant mémoire avec un autotest intégré qui comprend un réseau mémoire. Une interface entrée/sortie est couplée à ce réseau mémoire et possède un rebouclage. Un contrôleur permet de transmettre des données de test de réseau mémoire au réseau mémoire de façon à stocker ces données de test de réseau mémoire, et à lire ces données à partir du réseau mémoire. Un registre de comparaison permet de comparer les données de test de réseau mémoire transmises au réseau mémoire avec les données de test de réseau mémoire lues à partir de ce réseau mémoire.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)