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1. (WO2002025257) METHODE DE MESURE QUANTITATIVE, APPAREIL DE PHASE METALLIQUE UTILISANT UN PROCEDE DE DIFFRACTION DE RAYONS X ET PROCEDE DE PRODUCTION D'UNE TOLE D'ACIER PLAQUEE UTILISANT CETTE METHODE ET CET APPAREIL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/025257    N° de la demande internationale :    PCT/JP2001/008093
Date de publication : 28.03.2002 Date de dépôt international : 18.09.2001
CIB :
G01N 23/207 (2006.01), G01N 33/20 (2006.01)
Déposants : KAWASAKI STEEL CORPORATION [JP/JP]; 1-28, Kitahonmachidori 1-chome, Chuo-ku, Kobe-shi, Hyogo 651-0075 (JP) (Tous Sauf US).
FUJIMURA, Toru [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
YAMAMOTO, Akira [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : FUJIMURA, Toru; (JP).
YAMAMOTO, Akira; (JP)
Mandataire : OCHIAI, Kenichiro; c/o Tokyo Head Office, KAWASAKI STEEL CORPORATION, Hibiya Kokusai Building, 2-3, Uchisaiwaicho 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 100-0011 (JP)
Données relatives à la priorité :
2000-288228 22.09.2000 JP
2000-293792 27.09.2000 JP
2000-364965 30.11.2000 JP
Titre (EN) QUANTITATIVE MEASURING METHOD AND APPARATUS OF METAL PHASE USING X-RAY DIFFRACTION METHOD, AND METHOD FOR MAKING PLATED STEEL SHEET USING THEM
(FR) METHODE DE MESURE QUANTITATIVE, APPAREIL DE PHASE METALLIQUE UTILISANT UN PROCEDE DE DIFFRACTION DE RAYONS X ET PROCEDE DE PRODUCTION D'UNE TOLE D'ACIER PLAQUEE UTILISANT CETTE METHODE ET CET APPAREIL
Abrégé : front page image
(EN)A quantitative measuring method and apparatus of a metal phase contained in a plated layer using an X-ray diffraction method, and a method for making a plated steel sheet using them. The measuring precision can be improved to find an application to an on-line measurement by increasing the intensity of an X-ray diffracted from the metal phase contained in the plated layer. The diffracted X-ray from the metal phase is measured either over a predetermined range or at a plurality of positions on the Debye ring to increase the intensity of the diffracted X-ray thereby to improve the measurement precision. Moreover, the X-ray beam emitted from an X-ray source is compressed or made monochromatic or parallel to increase the intensity of the diffracted X-ray thereby to improve the measurement precision. The method and apparatus are utilized especially for measuring the alloying degree of a molten zinc plating.
(FR)L'invention concerne une méthode de mesure quantitative et un appareil d'une phase métallique contenue dans une couche plaquée utilisant un procédé de diffraction de rayons X. Cette invention concerne également un procédé de production d'une tôle d'acier plaquée utilisant ladite méthode et ledit appareil. On peut améliorer la précision de mesure afin de trouver une application à une mesure en ligne, en augmentant l'intensité d'un rayon X diffracté depuis la phase métallique contenue dans la couche plaquée. Le rayon X diffracté depuis la phase métallique est mesuré soit dans une plage prédéterminée soit à une pluralité de positions sur l'anneau Debye pour augmenter l'intensité du rayon X diffracté et améliorer la précision de la mesure. De plus, le faisceau de rayons X émis par une source de rayons X est comprimé ou bien rendu monochromatique ou parallèle afin d'augmenter l'intensité du rayon X diffracté de manière à améliorer la précision de la mesure. Cette méthode de mesure et cet appareil sont utilisés en particulier pour mesurer le taux d'alliage d'une galvanisation.
États désignés : BR, CA, CN, KR, MX, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)