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1. (WO2002024372) PROCEDE ET APPAREIL POUVANT AMELIORER LA DUREE DE VIE EN FATIGUE DE COMPOSANTS ET DE STRUCTURES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/024372    N° de la demande internationale :    PCT/US2001/029944
Date de publication : 28.03.2002 Date de dépôt international : 24.09.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    22.04.2002    
CIB :
B23P 9/00 (2006.01), B23P 9/04 (2006.01), C21D 7/02 (2006.01)
Déposants : STRESSWAVE, INC. [US/US]; m/s 528 12932 SE Kent Kangley Road Kent, Washington 98031-7940 (US) (Tous Sauf US).
EASTERBROOK, Eric, T. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : EASTERBROOK, Eric, T.; (US)
Mandataire : GOODLOE, R., Reams, Jr.; Suite 3 10725 - SE 256th Street Kent, WA 98031-6425 (US)
Données relatives à la priorité :
09/668,769 22.09.2000 US
09/858,325 15.05.2001 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR IMPROVING THE FATIGUE LIFE OF COMPONENTS AND STRUCTURES
(FR) PROCEDE ET APPAREIL POUVANT AMELIORER LA DUREE DE VIE EN FATIGUE DE COMPOSANTS ET DE STRUCTURES
Abrégé : front page image
(EN)Metal coldworking tooling and a method of employing such tooling. The tooling (130) is used to produce deformation in a workpiece (132), preferably via use of stress waves (150, 152), to provide a selected beneficial residual stress profile in the workpiece, in order to provide high fatigue life structures in a minimum number of manufacturing steps. Preferably, action of an indenter (130) causes propagation of stress waves (150, 152) to coldwork a workpiece (132), causing dimples in the workpiece. Preferably, the dimples are provided with a shape formed by application of a uniform pressure profile to the workpiece surface. By optimized use of the method, a relatively uniform beneficial residual stress profile is provided at both the surface and at the midplane apertures in a workpiece, so as to improve overall fatigue life. An improved indenter tool profile shape is described, having a smoothly curved indenter surface portion. Also, the use of a consumable lamina wafer technique provides the benefit of easy application of uniform stress profile to a workpiece.
(FR)L'invention concerne un outillage d'écrouissage de métal et un procédé d'utilisation dudit outillage. L'outillage (130) est utilisé pour produire une déformation dans une pièce à usiner (132), de préférence par l'utilisation d'ondes de contrainte (150, 152), afin de réaliser dans la pièce à usiner un profil de contrainte résiduelle avantageux choisi, et d'obtenir des structures ayant une excellente tenue à la fatigue, en un nombre minimal d'étapes de fabrication. De préférence, l'action d'un pénétrateur (130) provoque la propagation d'ondes de contrainte (150, 152) pour l'écrouissage d'une pièce à usiner (132), et la formation d'alvéoles dans la pièce. De préférence, les alvéoles présentent une forme obtenue par application d'un profil de pression uniforme sur la surface de la pièce à usiner. L'utilisation optimisée de ce procédé permet de réaliser un profil de contrainte résiduelle avantageux relativement uniforme sur les deux surfaces et dans les ouvertures de partie moyenne de la pièce à usiner, ce qui améliore sa durée de vie en fatigue globale. On décrit une forme de profil améliorée du pénétrateur, qui présente une partie superficielle légèrement incurvée. L'invention concerne en outre l'utilisation d'une technique de fabrication de tranches stratifiées consommables, qui offre l'avantage d'une application facile d'un profil de contrainte uniforme sur une pièce à usiner.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)