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1. (WO2002023518) DISPOSITIF D'AFFICHAGE ET PROCEDE DE COMMANDE ASSOCIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/023518    N° de la demande internationale :    PCT/JP2001/007792
Date de publication : 21.03.2002 Date de dépôt international : 07.09.2001
CIB :
H04N 5/66 (2006.01), G09G 3/20 (2006.01), G09G 3/28 (2013.01), G09G 3/288 (2013.01), G09G 3/291 (2013.01), G09G 3/294 (2013.01), G09G 3/296 (2013.01), G09G 3/298 (2013.01)
Déposants : MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 571-8501 (JP) (Tous Sauf US).
KIGO, Shigeo [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KASAHARA, Mitsuhiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
MORI, Mitsuhiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HASHIGUCHI, Jumpei [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KIGO, Shigeo; (JP).
KASAHARA, Mitsuhiro; (JP).
MORI, Mitsuhiro; (JP).
HASHIGUCHI, Jumpei; (JP)
Mandataire : FUKUSHIMA, Yoshito; Esaka Mitaka Bldg. 6F, 4-1, Hiroshiba-cho, Suita-shi, Osaka 564-0052 (JP)
Données relatives à la priorité :
2000-277878 13.09.2000 JP
2001-266383 03.09.2001 JP
Titre (EN) DISPLAY AND ITS DRIVING METHOD
(FR) DISPOSITIF D'AFFICHAGE ET PROCEDE DE COMMANDE ASSOCIE
Abrégé : front page image
(EN)The operation ratio of each subfield is measured by a subfield operation ratio measuring instrument. A subfield processor controls a scan driver and a sustain driver so that the collecting time of the sustain pulse and the resonance time and sustain period of LC resonance increase with a decrease of the measured subfield operation ratio of each subfield.
(FR)Le rendement de chaque sous-champ est mesuré à l'aide d'un instrument de mesure du rendement d'un sous-champ. Un processeur de sous-champs commande un dispositif de commande de balayage et un dispositif de commande de maintenance, de telle sorte que le temps de prélèvement de l'impulsion de maintenance, le temps de résonance et la période de maintenance de la résonance LC augmentent avec la baisse du rendement de sous-champ mesuré de chaque sous-champ.
États désignés : CN, KR, US.
Office européen des brevets (OEB) (DE, FR, GB).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)