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1. (WO2002023212) PROCEDE ET APPAREIL DE CARACTERISATION DE DISPOSITIFS MULTITERMINAUX ASYMETRIQUES OU SYMETRIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/023212    N° de la demande internationale :    PCT/US2001/029068
Date de publication : 21.03.2002 Date de dépôt international : 18.09.2001
CIB :
G01R 27/28 (2006.01), G01R 35/00 (2006.01)
Déposants : AGILENT TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; Intellectual Property Administration P.O. Box 7599-M/S DL-429 Loveland, CO 80537-0599 (US)
Inventeurs : ADAMIAN, Vahe; (US).
COLE, J. Bradford; (US).
PHILLIPS, Peter; (US).
ENQUIST, Patrick, J.; (US)
Mandataire : ANASTASI, John, N.; Wolf, Greenfield & Sacks, P.C. 600 Atlantic Avenue Boston, MA 02210 (US)
Données relatives à la priorité :
60/233,596 18.09.2000 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR LINEAR CHARACTERIZATION OF MULTITERMINAL SINGLE-ENDED OR BALANCED DEVICES
(FR) PROCEDE ET APPAREIL DE CARACTERISATION DE DISPOSITIFS MULTITERMINAUX ASYMETRIQUES OU SYMETRIQUES
Abrégé : front page image
(EN)One embodiment of the invention comprises a multiport test set 'MTS' that characterizes a multiterminal DUT (128). The multiport test set comprises a plurality of ports 'N-ports', a signal generator (100) that provides a test signal over a frequency range, a reference receiver (102) coupled (101) to the signal generator that measures the test signal to determine a reference value, and at least one test channel receiver that measures the test signal at each port of the multiport test set. the multiport test set further comprises a switching device (103), coupled between the signal generator, the plurality of ports of the multiport test set and the at least one test channel receiver, that couples the test signal to any port of the multiport test set and to the at least one test channel receiver. The multiport test set further comprises a device for determining S-parameters [S] of the DUT from the test signal measurements at each port of the multiport test set and the reference value, and for converting the S-parameters to a time domain representation.
(FR)L'invention concerne, dans un mode de réalisation, un ensemble d'essais multiports 'MTS' caractérisant un dispositif en essai 'DUT' multiterminal (128). Le MTS comporte plusieurs ports 'N-ports', un générateur de signaux (100) qui produit un signal d'essai sur une gamme de fréquences, un récepteur de référence (102) couplé au générateur de signaux qui mesure le signal d'essai afin d'établir une valeur de référence, et au moins un récepteur de canal d'essai qui mesure le signal d'essai à chaque port du MTS. Ce dernier comprend en outre un dispositif commutateur (103), couplé entre le générateur de signaux, la pluralité de ports de l'ensemble d'essais multiports et du récepteur de canal d'essai, qui couple le signal d'essai à n'importe quel port de l'ensemble d'essais multiports ainsi qu'au récepteur de canal d'essai. Le MTS comprend également un dispositif qui détermine les S-paramètres [S] du DUT à partir de mesures des signaux d'essais effectuées à chaque port du MTS et de la valeur de référence, et qui convertit les S-paramètres en représentation dans le domaine temporel.
États désignés : JP.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)