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1. (WO2002023126) PROCEDE POUR ETABLIR LA POSITION D'UNE CIBLE PROVISOIRE SUR UN OBJET PAR RAPPORT A DES CARACTERISTIQUES CONNUES DUDIT OBJET
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/023126    N° de la demande internationale :    PCT/GB2001/003882
Date de publication : 21.03.2002 Date de dépôt international : 30.08.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    15.02.2002    
CIB :
G01C 11/06 (2006.01), G01S 5/16 (2006.01)
Déposants : BAE SYSTEMS PLC [GB/GB]; Warwick House Farnborough Aerospace Centre P.O. Box 87 Farnborough Hampshire GU14 6YU (GB) (Tous Sauf US).
GOOCH, Richard, Michael [GB/GB]; (GB) (US Seulement)
Inventeurs : GOOCH, Richard, Michael; (GB)
Mandataire : BAE SYSTEMS PLC; Group IP Department Lancaster House, P.O. Box 87 Farnborough Aerospace Centre Farnborough Hampshire GU14 6YU (GB)
Données relatives à la priorité :
0022447.7 13.09.2000 GB
Titre (EN) METHOD FOR ESTABLISHING THE POSITION OF A TEMPORARY ON AN OBJECT RELATIVE TO KNOW FEATURES OF THE OBJECT
(FR) PROCEDE POUR ETABLIR LA POSITION D'UNE CIBLE PROVISOIRE SUR UN OBJET PAR RAPPORT A DES CARACTERISTIQUES CONNUES DUDIT OBJET
Abrégé : front page image
(EN)A method of establishing the position of a target on an object (24), the method comprising the steps of: identifying one or more features (26a, 26b, 26c) associated with the object, the features being located at known positions on the object; applying a first target (3) to the object; establishing a datum co-ordinate system for the object based on the determined location of the features associated with the object; and, measuring using optical measuring means (6a, 6b) the position of the first target on the object relative to the one or more features so as to determine the location of the target on the object.
(FR)L'invention concerne un procédé pour établir la position d'une cible sur un objet (24). Ce procédé consiste à identifier une ou plusieurs caractéristiques (26a, 26b, 26c) associées à cet objet, ces caractéristiques étant situées à des emplacements connus sur l'objet, appliquer une première cible (3) sur l'objet, établir un système de coordonnées de référence pour l'objet sur la base de l'emplacement déterminé des caractéristiques associées à l'objet et à mesurer la position de la première cible sur l'objet par rapport à une ou plusieurs caractéristiques, à l'aide de moyens de mesure optiques (6a, 6b), de manière à déterminer l'emplacement de la cible sur l'objet.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)