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1. (WO2002021113) MICROSCOPE À LENTILLE THERMIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/021113    N° de la demande internationale :    PCT/JP2001/007794
Date de publication : 14.03.2002 Date de dépôt international : 07.09.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    15.03.2002    
CIB :
G02B 6/12 (2006.01), G02B 6/13 (2006.01), G02B 21/00 (2006.01), G02B 21/02 (2006.01)
Déposants : KANAGAWA ACADEMY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 2-1, Sakado 3-chome, Takatsu-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 213-0012 (JP) (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BR, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GW, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, MZ, NE, NL, NO, NZ, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SN, SZ, TD, TG, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW only).
KITAMORI, Takehiko [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HIBARA, Akihide [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TOKESHI, Manabu [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KITAMORI, Takehiko; (JP).
HIBARA, Akihide; (JP).
TOKESHI, Manabu; (JP)
Mandataire : NISHIZAWA, Toshio; 6F, Mani-Building, 37-10, Udagawa-cho, Shibuya-ku, Tokyo 150-0042 (JP)
Données relatives à la priorité :
2000-273678 08.09.2000 JP
Titre (EN) THERMAL LENS MICROSCOPE DEVICE
(FR) MICROSCOPE À LENTILLE THERMIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A small and portable microscope for ultramicroanalysis having an excellent spatial resolution and a fixed position analyzing adility in which a exciting light source (3), a detecting light source (4) and at least a part of a thermal lens microscope optical system are arranged integrally in a device body comprising an analyzing cell (1) and substrates (2A), (2B) supporting the analyzing cell (1).
(FR)Cette invention a trait à un microscope portable, de taille réduite, destiné à des microanalyses, et doté d'une remarquable résolution spatiale ainsi que d'une forte capacité d'analyse de position fixe. Une source lumineuse d'excitation (3), une source lumineuse de détection (4) et au moins une partie d'un système optique de microscopie à lentille thermique, sont montées solidaires dans un corps de dispositif comprenant une cellule d'analyse (1) et des substrats (2A, 2B) supportant cette cellule d'analyse (1).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)