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1. (WO2002018920) DISPOSITIF, PROCEDE ET SYSTEME DE MESURE DE LA REPARTITION DE PROPRIETES SELECTIONNEES DANS UN MATERIAU
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/018920    N° de la demande internationale :    PCT/SE2001/001840
Date de publication : 07.03.2002 Date de dépôt international : 30.08.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    27.03.2002    
CIB :
G01N 22/04 (2006.01)
Déposants : AKTIEBOLAGET OCTOBER BIOMETRICS [SE/SE]; Högenvägen 195 S-428 30 Kållered (SE)
Inventeurs : MERKEL, Harald; (SE).
REIMERS, Mikael; (SE)
Mandataire : EHRNER & DELMAR PATENTBYRÅ AB; Box 103 16 S-100 55 Stockholm (SE)
Données relatives à la priorité :
0003078-3 31.08.2000 SE
Titre (EN) DEVICE, METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING THE DISTRIBUTION OF SELECTED PROPERTIES IN A MATERIAL
(FR) DISPOSITIF, PROCEDE ET SYSTEME DE MESURE DE LA REPARTITION DE PROPRIETES SELECTIONNEES DANS UN MATERIAU
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a device for measuring the distribution of selected properties of materials, said device comprises an emitter of electromagnetic radiation and furthermore at least one sensor of a first type. The emitter emits electromagnetic radiation in a selected frequency range towards said materials and a sensor of the first type detects electromagnetic radiation in a selected frequency range coming from said materials. The detected electromagnetic radiation having been emitted by said emitter. The device also comprises means to generate a three dimensional image contour information regarding the said material's position in space, and an analyser which (a) receives information from said sensors and (b) processes this information and (c) generates signals containing information about the distribution of said properties as output. The invention also relates to a system and a method for measuring the distribution of selected properties of materials.
(FR)La présente invention concerne un dispositif permettant de mesurer la répartition de propriétés sélectionnées de matériaux. Ce dispositif comprend un émetteur de rayons électromagnétiques et au moins un détecteur d'un premier type. L'émetteur émet des rayons électromagnétiques d'une gamme de fréquences sélectionnée en direction de ces matériaux et un détecteur du premier type détecte les rayons électromagnétiques d'une gamme de fréquences sélectionnée provenant de ces matériaux. Les rayons électromagnétiques détectés ont été émis par cet émetteur. Le dispositif comprend également un moyen destiné à générer des données contours d'image tridimensionnels relatives à la position de ce matériau dans l'espace, et un analyseur qui (a) reçoit les données de ces détecteurs et (b) traite ces données et (c) génère les signaux contenant des données sur la répartition de ces propriétés comme sortie. L'invention concerne également un système et un procédé de mesure de la répartition des propriétés sélectionnées des matériaux.
États désignés : JP.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)