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1. (WO2002018658) DETECTION DE LA DYSPLASIE EPITHELIALE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/018658    N° de la demande internationale :    PCT/US2001/041531
Date de publication : 07.03.2002 Date de dépôt international : 03.08.2001
CIB :
C12Q 1/68 (2006.01)
Déposants : ORALSCAN LABORATORIES, INC. [US/US]; Ten Executive Blvd. Suffern, NY 10901 (US)
Inventeurs : RUTENBERG, Mark; (US).
EISEN, Drore; (US).
FRIST, Stephen; (US).
KRISTT, Donald, Alan; (IL)
Mandataire : BERGER, Peter, L.; Levisohn, Lerner, Berger & Langsam 757 Third Avenue, Suite 2400 New York, NY 10017 (US)
Données relatives à la priorité :
60/225,186 14.08.2000 US
Titre (EN) DETECTION OF EPITHELIAL DYSPLASIA
(FR) DETECTION DE LA DYSPLASIE EPITHELIALE
Abrégé : front page image
(EN)A system to detect epithelial dysplasia is disclosed by examining cells obtained by a non-lacerational trans-epithelial device. The system selects suspect cells based on abnormal morphology, cytometry and/or using molecular diagnostic techniques. In a preferred embodiment, the results of the computer analysis are displayed as a histogram and the images of the suspect cells are reviewed for DNA ploidy by a pathologist on a cell by cell basis.
(FR)L'invention concerne un système permettant de détecter la dysplasie épithéliale en examinant des cellules obtenues par un dispositif transépithélial ne provoquant pas de déchirure. Ce système sélecte des cellules suspectes en fonction d'une morphologie ou d'une cytométrie anormale et/ou à l'aide de techniques de diagnostic moléculaire. Selon un mode de réalisation préféré, les résultats de l'analyse informatique sont affichés sous forme d'un histogramme et les images des cellules suspectes sont étudiées par un pathologiste cellule par cellule pour rechercher l'ADN-ploïdie.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)