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1. (WO2002016877) SYSTEME DE CIRCUIT ET PROCEDE DE COMMANDE ET D"EVALUATION DE SIGNAUX DE DETECTEURS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/016877    N° de la demande internationale :    PCT/DE2001/003032
Date de publication : 28.02.2002 Date de dépôt international : 08.08.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    20.02.2002    
CIB :
G01D 3/036 (2006.01)
Déposants : MICRO-EPSILON MESSTECHNIK GMBH & CO. KG [DE/DE]; Königbacher Strasse 15, 94496 Ortenburg (DE) (Tous Sauf US).
MEDNIKOV, Felix [RU/DE]; (DE) (US Seulement).
SELLEN, Martin [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
WISSPEINTNER, Karl [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : MEDNIKOV, Felix; (DE).
SELLEN, Martin; (DE).
WISSPEINTNER, Karl; (DE)
Mandataire : ULLRICH & NAUMANN; Luisenstrasse 14, 69115 Heidelberg (DE)
Données relatives à la priorité :
100 41 321.8 23.08.2000 DE
101 23 303.5 14.05.2001 DE
Titre (DE) SCHALTUNGSANORDNUNG UND VERFAHREN ZUR ANSTEUERUNG UND SIGNALAUSWERTUNG VON SENSOREN
(EN) CIRCUIT ARRANGEMENT AND METHOD FOR CONTROLLING AND EVALUATING SIGNAL DETECTORS
(FR) SYSTEME DE CIRCUIT ET PROCEDE DE COMMANDE ET D"EVALUATION DE SIGNAUX DE DETECTEURS
Abrégé : front page image
(DE)Eine Schaltungsanordnung (1) zur Ansteuerung und Signalauswertung von Sensoren, insbesondere für parametrische Sensoren mit komplexen Impedanzen, mit mindestens einem Sensor (2) zur Erfassung mechanischer Grössen, ist im Hinblick auf eine Minimierung bzw. weitestgehende Verhinderung von temperaturbedingten Störungen bei einer konstruktiv einfachen Ausführung derart ausgestaltet, dass das Messignal, die absolute Temperatur und die Gradienttemperatur des Sensors (2), vorzugsweise mittels eines Mikroprozessors oder Mikrorechners (3), gleichzeitig erfassbar sind. Des Weiteren ist ein entsprechendes Verfahren zur Ansteuerung und Signalauswertung von Sensoren angegeben.
(EN)The invention relates to a circuit arrangement (1) for controlling and evaluating signal sensors, particularly for parametric sensors with complex impedance, comprising at least one sensor (2) for detecting mechanical variations. In order to minimise or restrict as far as possible the number of temperature-related disruptions in a simple constructive embodiment, the measuring signal, the absolute temperature and the gradient temperature of the sensor (2) are simultaneously detectable, preferably by a microprocessor or microcalculator(3). The invention also relates to a further method for controlling and evaluating the signals of sensors.
(FR)L"invention concerne un système de circuit (1) de commande et d"évaluation de signaux provenant de détecteurs, en particulier de détecteurs paramétriques à impédances complexes, comprenant au moins un détecteur (2) pour la détection de paramètres mécaniques. En vue de minimiser ou d"empêcher, dans une large mesure, des perturbations dues à la température, tout en ayant une construction simple, l"invention est caractérisée en ce que le signal à mesurer, la température absolue et la température de gradient du détecteur (2) sont détectables simultanément, de préférence au moyen d"un microprocesseur ou d"un microcalculateur (3). L"invention concerne en outre un procédé correspondant de commande et d"évaluation de signaux de détecteurs.
États désignés : JP, US.
Office européen des brevets (OEB) (BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)