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1. (WO2002014847) APPAREIL ET PROCEDE PERMETTANT DE MESURER DES CARACTERISTIQUES DE MATERIAUX ANISOTROPES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/014847    N° de la demande internationale :    PCT/NZ2001/000165
Date de publication : 21.02.2002 Date de dépôt international : 15.08.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    04.03.2002    
CIB :
G01N 22/02 (2006.01)
Déposants : INDUSTRIAL RESEARCH LIMITED [NZ/NZ]; Brooke House 24 Balfour Road Parnell Auckland 1033 (NZ) (Tous Sauf US).
HOLMES, Wayne, Stephen [NZ/NZ]; (NZ) (US Seulement)
Inventeurs : HOLMES, Wayne, Stephen; (NZ)
Mandataire : HAWKINS, Michael, Howard; Baldwin Shelston Waters P.O. Box 852 Wellington (NZ)
Données relatives à la priorité :
506359 15.08.2000 NZ
Titre (EN) APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF ANISOTROPIC MATERIALS
(FR) APPAREIL ET PROCEDE PERMETTANT DE MESURER DES CARACTERISTIQUES DE MATERIAUX ANISOTROPES
Abrégé : front page image
(EN)Apparatus (1) for determining material characteristics of an object (2) is provided, the apparatus including at least one microwave sensing system including generating means (3) and transmitting means (4) for generating and transmitting one or more microwave signals on to one or more focal points located substantially on the surface of an object to be measured. The energy or power of microwave signals reflected from the object (2) is detected and at least on measurement value is computed dependent on the refected microwave signals, wherein the measurement value is indicative of one or more material characteristics of the object. Also provided is a method of determining material characteristics of an object inlcuding focussing microwave energy onto the surface of the object and detecting the reflected signals. The apparatus and method may be used to provide a measure of the length of the object and the location of characteristics of the object along its length.
(FR)La présente invention concerne un appareil (1) destiné à déterminer des caractéristiques matérielles d'un objet (2). Cet appareil comprend au moins un système de détecteur de micro-ondes comprenant un organe (3) générateur et un organe (4) d'émission permettant de générer et d'émettre un ou plusieurs signaux micro-ondes sur un ou plusieurs foyers situés sensiblement sur la surface d'un objet à mesurer. L'énergie ou la puissance des signaux micro-ondes reflétés par l'objet (2) est détectée et, elle est traitée au moins sur une valeur de mesure en fonction des signaux micro-ondes reflétés. Cette valeur de mesure indique une ou plusieurs caractéristiques de cet objet. Cette invention concerne aussi un procédé de détermination des caractéristiques matérielles d'un objet, qui consiste à concentrer l'énergie micro-onde sur la surface de cet objet et à détecter les signaux reflétés. On peut aussi utiliser cet appareil et ce procédé pour obtenir une mesure de la longueur de l'objet et la localisation de caractéristiques de cet objet sur sa longueur.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)