WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Options
Langue d'interrogation
Stemming/Racinisation
Trier par:
Nombre de réponses par page
Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2002014793) SYSTEME ET PROCEDE D'AUTO-ETALONNAGE DE DETECTUR NON INVASIF
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2002/014793 N° de la demande internationale : PCT/US2001/025109
Date de publication : 21.02.2002 Date de dépôt international : 09.08.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 11.03.2002
CIB :
A61B 5/00 (2006.01) ,G01D 18/00 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01)
A NÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61
SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
B
DIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
5
Mesure servant à établir un diagnostic; Identification des individus
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
D
MESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉE À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; DISPOSITIONS NON COUVERTES PAR UNE SEULE DES AUTRES SOUS-CLASSES POUR MESURER PLUSIEURS VARIABLES; APPAREILS COMPTEURS À TARIFS; DISPOSITIONS POUR LE TRANSFERT OU LA TRANSDUCTION DE MESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉES À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; MESURES OU VÉRIFICATIONS NON PRÉVUES AILLEURS
18
Vérification ou étalonnage des appareils ou des dispositions prévus dans les groupes G01D1/-G01D15/137
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25
Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
27
en utilisant la détection photo-électrique
Déposants : DIETIKER, Thomas[US/US]; US (UsOnly)
ELEKON INDUSTRIES, INC.[US/US]; 3848 Del Amo Boulevard Suite 304 Torrance, CA 90503, US (AllExceptUS)
Inventeurs : DIETIKER, Thomas; US
Mandataire : RUBIO-CAMPOS, Francisco, A. ; Sonnenschein Nath & Rosenthal P.O. Box 061080 Wacker Drive Station Sears Tower Chicago, IL 60606-1080, US
KRIETZMAN, Mark; Sonnenschein Nath & Rosenthal P.O. Box 061080 Wacker Drive Station, Sears Tower Chicago, IL 60606-1080, US
Données relatives à la priorité :
60/225,02111.08.2000US
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR A SELF-CALIBRATING NON-INVASIVE SENSOR
(FR) SYSTEME ET PROCEDE D'AUTO-ETALONNAGE DE DETECTUR NON INVASIF
Abrégé :
(EN) A non-invasive emitter-photodiode sensor which is able to provide a data-stream corresponding to the actual wavelength of light emitted thereby allowing calibration of the sensor signal processing equipment and resulting in accurate measurements over a wider variation in emitter wavelength ranges.
(FR) L'invention concerne un détecteur non invasif de photodiode d'émetteur qui permet de fournir des flots de données correspondant à la longueur d'onde actuelle de la lumière émise, ce qui entraîne le calibrage de l'équipement de traitement de signal du détecteur et résulte en des mesures précises par le biais d'une variation plus large dans des gammes de longueurs d'onde d'émetteur.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)