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1. (WO2002012938) TECHNIQUES PASSIVES A COMPENSATION DE TEMPERATURE POUR ETALONNAGE DE FILTRE A ACCORD VARIABLE DANS DES SYSTEMES D'INTERROGATION A RESEAU DE BRAGG
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2002/012938 N° de la demande internationale : PCT/US2001/019940
Date de publication : 14.02.2002 Date de dépôt international : 22.06.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 22.06.2001
CIB :
G02B 6/34 (2006.01) ,H04B 10/08 (2006.01)
Déposants : THE GOVERNMENT OF THE UNITED STATES OF AMERICA, represented by THE SECRETARY OF THE NAVY[US/US]; Naval Research Laboratory, 1008.2 4555 Overlook Avenue, SW Washington, DC 20375-5325, US (AllExceptUS)
Inventeurs : JOHNSON, Gregg, A.; US
ALTHOUSE, Bryan, L.; US
NAU, Greg; US
VOHRA, Sandeep, T.; US
Mandataire : KARASEK, John, J.; Associate Counsel (Patents) 1008.2 Naval Research Laboratory 4555 Overlook Avenue, SW Washington, DC 20375-5325, US
Données relatives à la priorité :
09/635,22709.08.2000US
Titre (EN) PASSIVE, TEMPERATURE COMPENSATED TECHNIQUES FOR TUNABLE FILTER CALIBRATION IN BRAGG-GRATING INTERROGATION SYSTEMS
(FR) TECHNIQUES PASSIVES A COMPENSATION DE TEMPERATURE POUR ETALONNAGE DE FILTRE A ACCORD VARIABLE DANS DES SYSTEMES D'INTERROGATION A RESEAU DE BRAGG
Abrégé : front page image
(EN) A passive, temperature compensated tunable filter calibration device for a Bragg grating interrogation system comprising a dual substrate Bragg grating interrogation system (21) in which the temperature of an array of gratins (12) is estimated using the array of gratings (12) bonded to a common host substrate (16) and a single grating (18) bonded to a material (22) with a different coefficient of thermal expansion. Changes in the common temperature of the substrates (16.22) is measured by monitoring the difference between shifts of grating wavelength. As a filter voltage is scanned from its lowest to its highest voltage, the voltages are recorded. The second lowest wavelength corresponds to the grating (18) attached to the differing substrate (22). The voltages are used to calculate a voltage to wavelength function for the scanning range of the filter (28). To compensate for variations in a calibration curve and temperature variations of the calibration array (12), the temperature is estimated and function re-calculated at every pass of the scanning filter (28).
(FR) Cette invention concerne un dispositif d'étalonnage passif à compensation de température pour système d'interrogation à réseaux de Bragg comprenant un système d'interrogation à réseaux de Bragg à double substrat (21) dans lequel on estime la température d'un dispositif de réseaux (12) en utilisant ledit dispositif (12) collé à un substrat hôte (16) et un seul réseau (18) collé à un matériau (22) présentant un coefficient de dilatation thermique différent. On mesure les variations de la température commune aux substrats (16, 22) en contrôlant l'écart entre les décalages de longueur d'onde des réseaux. On enregistre les tensions de filtre relevées au cours du balayage, de la plus faible à la plus élevée. La deuxième tension la plus faible correspond au réseau (28) fixé au substrat différent (22). Les tensions servent à calculer une fonction tension/longueur d'onde pour la plage de balayage du filtre (28). Pour compenser des variations de courbe d'étalonnage et des variations de température du réseau d'étalonnage (12), on estime la température et l'on recalcule la fonction à chaque passe du filtre de balayage (28).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)