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1. (WO2002012907) SYSTÈME, PROCÉDÉ ET APPAREIL DE CONCEPTION DE PRODUITS SUR LA BASE DES COMPATIBILITÉS ÉLECTROMAGNÉTIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2002/012907 N° de la demande internationale : PCT/US2001/024594
Date de publication : 14.02.2002 Date de dépôt international : 03.08.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 26.02.2002
CIB :
G01R 29/08 (2006.01) ,G01R 31/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
29
Dispositions pour procéder aux mesures ou à l'indication de grandeurs électriques n'entrant pas dans les groupes G01R19/-G01R27/165
08
Mesure des caractéristiques du champ électromagnétique
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
Déposants : QUALCOMM INCORPORATED[US/US]; 5775 Morehouse Drive San Diego, CA 92121-1714, US
Inventeurs : KHAZEI, Mehyar; US
Mandataire : WADSWORTH, Philip, R. ; Qualcomm Incorporated 5775 Morehouse Drive San Diego, CA 92121-1714, US
Données relatives à la priorité :
60/222,90603.08.2000US
60/304,47017.07.2001US (demande internationale considérée comme retirée 17.08.2002)
Titre (EN) SYSTEM, METHOD, AND APPARATUS FOR ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY-DRIVEN PRODUCT DESIGN
(FR) SYSTÈME, PROCÉDÉ ET APPAREIL DE CONCEPTION DE PRODUITS SUR LA BASE DES COMPATIBILITÉS ÉLECTROMAGNÉTIQUES
Abrégé :
(EN) A system, method, and apparatus for electromagnetic compatibility-driven design of electronic devices and systems according to one embodiment of the invention performs measurement of emissions from electronic devices and accounts for electromagnetic interactions among the functional blocks of an electronic system during the design phase. In an exemplary application, a characterization of near-field emissions is used to calculate radiation intensity in near- and/or far-field regions.
(FR) La présente invention concerne un système, un procédé et un appareil de conception de dispositifs et systèmes électroniques sur la base des compatibilités électromagnétiques. Selon un premier mode de réalisation de l'invention, on réalise la mesure des émissions par les appareils électroniques, et on tient compte des interactions électromagnétiques entre les blocs fonctionnels d'un système électronique dès la phase de conception. Selon un cas d'espèce généralisable, pour calculer l'intensité du rayonnement dans les régions de champ proche et/ou lointain, on utilise une caractérisation des émissions de champ proche.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)