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1. (WO2002008904) INITIALISATION AU NIVEAU SYSTEME D'UN AUTO-CONTROLE INTEGRE DE MEMOIRE A BASE DE MICROCODE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/008904    N° de la demande internationale :    PCT/GB2001/002984
Date de publication : 31.01.2002 Date de dépôt international : 05.07.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    16.08.2001    
CIB :
G11C 29/16 (2006.01)
Déposants : INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION [US/US]; New Orchard Road Armonk New York, NY 10504 (US).
IBM UNITED KINGDOM LIMITED [GB/GB]; PO Box 41 North Harbour Portsmouth Hampshire PO6 3AU (GB) (MG only)
Inventeurs : ADAMS, Robert, Dean; (US).
ECKENRODE, Thomas; (US).
GREGOR, Steven; (US).
ZARRINEH, Kamran; (US)
Mandataire : BURT, Roger, James; IBM United Kingdom Limited Intellectual Property Law Hursley Park Winchester Hampshire SO21 2JN (GB)
Données relatives à la priorité :
09/625,996 26.07.2000 US
Titre (EN) SYSTEM INITIALIZATION OF MICROCODE-BASED MEMORY BUILT-IN SELF-TEST
(FR) INITIALISATION AU NIVEAU SYSTEME D'UN AUTO-CONTROLE INTEGRE DE MEMOIRE A BASE DE MICROCODE
Abrégé : front page image
(EN)The functionality of a programmable memory built-in self-test (BIST) arrangement for testing an embedded memory structure of an integrated circuit is extended to system level testing to ascertain operability of the system after the integrated circuits and boards including them have been placed in service in larger systems, by generating default test signals which are loaded in an instruction store module when test instructions are not provided from an external tester. This additional utility of the BIST arrangement, increases efficiency of chip space utilization and improves the system level test. Loading of test instructions from an external tester during chip manufacture and/or board assembly is unaffected.
(FR)Cette invention concerne une extension de fonctionnalité d'un ensemble d'auto-contrôle intégré (BIST) de mémoire programmable visant à tester une structure de mémoire intégrée d'un circuit intégré au niveau système de manière à contrôler le bon fonctionnement du système après mise en service, dans des ensembles plus vastes, de circuits intégrés et des circuits imprimés qui les renferment. A cette fin, on génère des signaux de contrôle de défauts qui sont chargés dans un module de stockage d'instructions dans les cas où ce n'est pas un appareil de contrôle externe qui fournit les instructions d'essai. Cette fonctionnalité supplémentaire de l'ensemble BIST permet d'optimiser l'exploitation de l'espace pour les microcircuits et d'améliorer les contrôles des niveaux de système, ceci sans incidence sur le chargement d'instructions à partir d'un appareil de contrôle extérieur pendant la fabrication de microcircuits et/ou le montage de circuits imprimés.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)