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1. (WO2002004966) APPAREIL ET PROCEDE DE VERIFICATION D'UNE PRISE SUR UNE CARTE DE VIEILLISSEMENT ARTIFICIEL A L'AIDE D'UNE SONDE A BANDE FLEXIBLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/004966    N° de la demande internationale :    PCT/US2001/020099
Date de publication : 17.01.2002 Date de dépôt international : 22.06.2001
CIB :
G01R 1/04 (2006.01), G01R 35/00 (2006.01)
Déposants : ADVANCED MICRO DEVICES, INC. [US/US]; One AMD Place Mail Stop 68 Sunnyvale, CA 94088-3453 (US)
Inventeurs : HUSSAIN, Rafiqul; (US)
Mandataire : RODDY, Richard, J.; Advanced Micro Devices, Inc. One AMD Place Mail Stop 68 Sunnyvale, CA 94088-3453 (US)
Données relatives à la priorité :
09/610,873 06.07.2000 US
Titre (EN) AN APPARATUS AND METHOD FOR TESTING A SOCKET ON A BURN-IN BOARD USING A FLEX STRIP PROBE
(FR) APPAREIL ET PROCEDE DE VERIFICATION D'UNE PRISE SUR UNE CARTE DE VIEILLISSEMENT ARTIFICIEL A L'AIDE D'UNE SONDE A BANDE FLEXIBLE
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus and method for testing a socket (16) on a burn-in board (18) using a flex strip probe (12). The flex strip probe (12) is a flex strip having wires (24) with leads (22) on one and connected to a tester (14) at the other end. The leads (22) are inserted into a socket (16) and the tester (14) provides signals to and from the socket (16) through the flex strip probe (12). The signal simulates the signals to a semiconductor package which will be inserted into the socket (16) and tested. If necessary, a second flex strip probe (12) can be used in conjunction wiht a first flex strip.
(FR)L'invention concerne un appareil et un procédé de vérification d'une prise (16) sur une carte de vieillissement artificiel (18) à l'aide d'une sonde à bande flexible (12). La sonde à bande flexible (12) est composée d'une bande flexible renfermant des fils (24) comprenant des broches (22) à une extrémité et connectés à un testeur (14) à l'autre extrémité. Les broches (22) sont introduites dans une prise (16) et le testeur (14) fournit des signaux en provenance et en direction de la prise (16) par l'intermédiaire de la sonde à bande flexible (12). Les signaux simulent les signaux à un boîtier semi-conducteur destiné à être introduit dans la prise (16) et testé. Si nécessaire, une seconde sonde à bande flexible (12) peut être utilisée conjointement avec la première sonde à bande flexible.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)