WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2002002666) SYSTEMES DE RESINE EPOXYDE A FAIBLE ABSORPTION D'HUMIDITE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/002666    N° de la demande internationale :    PCT/US2001/018272
Date de publication : 10.01.2002 Date de dépôt international : 06.06.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    07.01.2002    
CIB :
C08G 59/32 (2006.01), C08G 59/50 (2006.01)
Déposants : CYTEC TECHNOLOGY CORP. [US/US]; 300 Delaware Avenue Wilmington, DE 19801 (US)
Inventeurs : ALMEN, Gregory, Roy; (US)
Mandataire : SCHULTZ, Claire, M.; Cytec Industries Inc. 1937 West Main Street P.O. Box 60 Stamford, CT 06904-0060 (US).
NEGRON, Liza; Cytec Industries Inc. 1937 West Main Street P.O. Box 60 Stamford, CT 06904-0060 (US)
Données relatives à la priorité :
09/605,376 29.06.2000 US
Titre (EN) LOW MOISTURE ABSORPTION EPOXY RESIN SYSTEMS
(FR) SYSTEMES DE RESINE EPOXYDE A FAIBLE ABSORPTION D'HUMIDITE
Abrégé : front page image
(EN)Resin systems containing a dicyclopentadiene-based epoxy resin and an ortho-alkylated aromatic diamine hardener exhibit low moisture absorption, high Tg and good retention of properties under hot and wet conditions. These properties make the resin systems especially useful in aerospace applications.
(FR)L'invention concerne des systèmes de résine contenant une résine époxyde à base de dicyclopentadiène et un durcisseur diamine aromatique ortho-alkylé qui présentent une faible absorption d'humidité, un Tg élevé et une bonne rétention de propriétés dans des conditions de chaleur et d'humidité. Grâce à ces propriétés, les systèmes de résine sont particulièrement utiles dans des applications aérospatiales.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)