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1. (WO2002001152) SYSTÈME DE DÉTERMINATION DE POSITION ANTI-SCINTILLEMENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/001152    N° de la demande internationale :    PCT/US2001/020368
Date de publication : 03.01.2002 Date de dépôt international : 27.06.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    04.01.2002    
CIB :
G01B 5/255 (2006.01), G01B 11/00 (2006.01), G01B 11/275 (2006.01)
Déposants : SNAP-ON TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 420 Barclay Boulevard Lincolnshire, IL 60069 (US)
Inventeurs : JACKSON, David, A.; (US)
Mandataire : BECKER, Stephen, A.; McDermott, Will & Emery 600 13th Street, N.W. Washington, DC 20005-3096 (US)
Données relatives à la priorité :
60/214,390 28.06.2000 US
Titre (EN) GLINT-RESISTANT POSITION DETERMINATION SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE DÉTERMINATION DE POSITION ANTI-SCINTILLEMENT
Abrégé : front page image
(EN)An improved position determination system that is resistant to interference caused by glint, such as from the Sun. The position determination system for determining positional parameters of an object has a target device comprising a base configured for attaching to the object, first and second target surfaces connected to the base; wherein the planes on which the first target surface and the second target surface are located are non-parallel to each other. The position determination system further comprises an image sensing device configured for forming a viewing path intersecting the target device and generating image information indicative of the geometric characteristics of the target device, and a data processing device configured to couple to the image sensing device for determining the orientation of the object based on the image information. If one of the target surfaces becomes obscured as a result of glint, the image of the other target surface alone is sufficient to determine object orientation.
(FR)L'invention concerne un système de détermination de position amélioré résistant aux interférences causées par le scintillement provenant du soleil. Le système qui sert à déterminer des paramètres de position d'un objet, comporte un dispositif cible doté d'une base conçue pour se fixer à l'objet, une première et une seconde surface cible reliées à la base, les plans sur lesquels ces surfaces cible sont situées n'étant pas parallèle l'un à l'autre. Le système de détermination de position comprend également un dispositif de détection d'images conçu pour former un trajet de vision croisant le dispositif cible, et pour générer des informations d'image représentatives des caractéristiques géométriques du dispositif cible, et un dispositif de traitement de données conçu pour se coupler au dispositif de détection d'images afin de déterminer l'orientation de l'objet sur la base des informations d'image. Si l'une des surfaces cible s'assombrit suite au scintillement, l'image de l'autre surface cible est suffisante pour déterminer l'orientation de l'objet.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)