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1. (WO2001080182) METHODE UTILISANT UN DIAGRAMME DE DISPERSION BIDIMENSIONNEL POUR L'INSPECTION DES DEFAUTS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/080182    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/021491
Date de publication : 25.10.2001 Date de dépôt international : 02.08.2000
CIB :
G06T 7/00 (2006.01)
Déposants : SCHLUMBERGER TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 150 Baytech Drive San Jose, CA 95134-2302 (US)
Inventeurs : AGHAJAN, Hamid, K.; (US)
Mandataire : KLIVANS, Norman, R.; Skjerven, Morrill, MacPherson, Franklin & Friel LLP Suite 700 25 Metro Drive San Jose, CA 95110 (US)
Données relatives à la priorité :
09/365,517 02.08.1999 US
Titre (EN) TWO-DIMENSIONAL SCATTER PLOT TECHNIQUE FOR DEFECT INSPECTION
(FR) METHODE UTILISANT UN DIAGRAMME DE DISPERSION BIDIMENSIONNEL POUR L'INSPECTION DES DEFAUTS
Abrégé : front page image
(EN)A method and associated apparatus for relating a test image with a reference image in an automated image processing system is disclosed. The test and reference images are aligned. A two-dimensional scatter plot is then created by plotting the gray level of a test image pixel against the gray level of a corresponding reference image pixel for each aligned pixel location.
(FR)L'invention concerne un procédé et un appareil associé, destinés à relier une image test à une image de référence dans un système de traitement image automatisé. Les images test et de référence sont alignées. Un diagramme de dispersion bidimensionnel est alors établi en reportant le niveau de gris d'un pixel image test à l'encontre du niveau de gris d'un pixel image de référence correspondante pour chaque emplacement de pixels alignés.
États désignés : JP, KR.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)