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1. WO2001077653 - SYSTEME D'INSPECTION A RAYONS X

Numéro de publication WO/2001/077653
Date de publication 18.10.2001
N° de la demande internationale PCT/JP2001/002989
Date du dépôt international 06.04.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 06.04.2001
CIB
G01N 23/04 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
02en transmettant la radiation à travers le matériau
04et formant des images des matériaux
G01N 23/223 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
22en mesurant l'émission secondaire de matériaux
223en irradiant l'échantillon avec des rayons X ou des rayons gamma et en mesurant la fluorescence X
CPC
G01N 2223/076
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2223Investigating materials by wave or particle radiation
07secondary emission
076X-ray fluorescence
G01N 23/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
02by transmitting the radiation through the material
04and forming images of the material
G01N 23/223
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
22by measuring secondary emission from the material
223by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
Déposants
  • HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • SUZUKI, Makoto [JP]/[JP] (UsOnly)
  • MORI, Hiroshige [JP]/[JP] (UsOnly)
  • YONEZAWA, Tomikazu [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • SUZUKI, Makoto
  • MORI, Hiroshige
  • YONEZAWA, Tomikazu
Mandataires
  • HASEGAWA, Yoshiki
Données relatives à la priorité
2000-10522506.04.2000JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) X-RAY INSPECTION SYSTEM
(FR) SYSTEME D'INSPECTION A RAYONS X
Abrégé
(EN)
An X-ray inspection system (10) comprises an X-ray camera (40), which includes a conversion plane (42) for producing an electron image in response to an incident X-ray image passing through an object, an output plane (46) for producing fluorescence in response to an incident electron image, and deflecting means (44) provided between the conversion plane (42) and the output plane (46). The X-ray image of a moving object is kept stationary on the output plane (46) by converging the electron image converted by the X-ray conversion plane (42) onto a predetermined area of the output plane (46) through the deflecting means (44). This enables an object to be photographed while the X-ray image is stationary, thus increasing resolution and sensitivity.
(FR)
L'invention concerne un système d'inspection à rayons X (10) comprenant une caméra à rayons X (40), laquelle comporte un plan de conversion (42) destiné à produire une image électronique en réponse à un image radiologique incidente traversant un objet, un plan de sortie (46) destiné à produire une fluorescence en réponse à une image électronique incidente, ainsi qu'un organe de déviation (44) situé entre le plan de conversion (42) et le plan de sortie (46). L'image radiologique d'un objet en mouvement est maintenue fixe sur le plan de sortie (46) par convergence de l'image électronique convertie par le plan de conversion de rayons X (42) sur une zone prédéterminée du plan de sortie (46) à travers l'organe de déviation (44). Cela permet de photographier un objet pendant que l'image radiologique est fixe, d'où une augmentation de résolution et de sensibilité.
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