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1. (WO2001075427) PROCEDES ET APPAREIL DE MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/075427    N° de la demande internationale :    PCT/GB2001/001470
Date de publication : 11.10.2001 Date de dépôt international : 30.03.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    18.10.2001    
CIB :
G01Q 20/02 (2010.01), G01Q 60/24 (2010.01)
Déposants : UNIVERSITY OF BRISTOL [GB/GB]; Senate House Tyndall Avenue Bristol, Avon BS8 1TH (GB).
McMASTER, Terence, James [GB/GB]; (GB) (US Seulement).
MILES, Mervyn, John [GB/GB]; (GB) (US Seulement).
ANTOGNOZZI, Massimo [IT/GB]; (GB) (US Seulement).
HUMPHRIS, Andrew, David, Laver [GB/GB]; (GB) (US Seulement)
Inventeurs : McMASTER, Terence, James; (GB).
MILES, Mervyn, John; (GB).
ANTOGNOZZI, Massimo; (GB).
HUMPHRIS, Andrew, David, Laver; (GB)
Mandataire : STONER, G., Patrick; Mewburn Ellis York House 23 Kingsway London, Greater London WC2B 6HP (GB)
Données relatives à la priorité :
0007747.9 30.03.2000 GB
Titre (EN) METHODS AND APPARATUS FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPY
(FR) PROCEDES ET APPAREIL DE MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A probe module for atomic force microscopy has a substrate (33) and a deflectable cantilever probe (4) projecting from it. In the head of the atomic force microscope the probe is mounted with its axis perpendicular to the sample surface, e.g. so as to carry out shear force microscopy or transverse dynamic force microscopy. The cantilever probe (4) has a reflective surface (43) which is directed back up along the probe so that movement of the probe tip can be tracked using a light beam arrangement which in itself may be conventional. By this means, AFM procedures in perpendicular modes can be carried out using AFM heads requiring little modification from the conventional near-parallel mode arrangement. The probe may also be used in tapping mode to investigate sidewall features on a sample surface.
(FR)L'invention concerne un module sonde permettant la microscopie à force atomique, qui présente un substrat et une sonde (4) en porte-à-faux orientable faisant saillie à partir de celui-ci. Dans la tête du microscope à force atomique, la sonde est montée de telle sorte que son axe soit perpendiculaire à la surface d'échantillon, par exemple de façon qu'il soit possible de réaliser une microscopie à force de cisaillement ou une microscopie à force dynamique transversale. La sonde (4) à porte-à-faux présente une surface (43) réfléchissante qui est dirigée vers le haut le long de la sonde de sorte que la pointe de la sonde peut être suivie au moyen d'un dispositif à faisceau lumineux qui en lui-même peut être classique. Par ce moyen, les opérations de microscopie à force atomique (AFM) en mode perpendiculaire peuvent être réalisées au moyen de têtes AFM avec peu de modification à partir du dispositif à mode quasi parallèle classique. La sonde peut être utilisée également en mode vertical pour l'examen de caractéristiques des parois latérales sur une surface d'échantillon.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)